00195721-0102_UM_X-Serie_SR605_DE.pdf - 第161页
Betriebsanleitung SIPLACE X-Serie 3 Tech nische Daten des Automaten Ab Softwareversion SR.605.xx Au sgabe 07/2 008 DE 3.8 Visionsystem 161 3.8.7 LP-Kamera, T yp 34, digital 3.8.7.1 Aufbau 3 Abb. 3.8 - 8 LP-Kamera, T yp 3…
3 Technische Daten des Automaten Betriebsanleitung SIPLACE X-Serie
3.8 Visionsystem Ab Softwareversion SR.605.xx Ausgabe 07/2008 DE
160
3.8.6 BE-Kamera stationär P&P, Typ 33, 55 x 45, digital
3.8.6.1 Aufbau
3
Abb. 3.8 - 7 Aufbau der BE-Kamera stationär P&P, Typ 33, 55 x 45, digital
3.8.6.2 Technische Daten
3
(1) Kameragehäuse mit integrierter Kamera
und Kameraverstärker
(2) Glasplatte - darunter Beleuchtungs- und
Optikebenen
BE-Maße 0,5 x 0,5 mm² bis 55 x 45 mm²
BE-Spektrum 0402, MELF, SO, PLCC, QFP, Elektrolytkondensatoren, BGA
Min. Beinchenraster 0,3 mm
Min. Beinchenbreite 0,15 mm
Min. Ballraster 0,35 mm
Min. Balldurchmesser 0,2 mm
Gesichtsfeld 65 x 50 mm²
Beleuchtungsart Auflicht (6 frei programmierbare Ebenen)
Betriebsanleitung SIPLACE X-Serie 3 Technische Daten des Automaten
Ab Softwareversion SR.605.xx Ausgabe 07/2008 DE 3.8 Visionsystem
161
3.8.7 LP-Kamera, Typ 34, digital
3.8.7.1 Aufbau
3
Abb. 3.8 - 8 LP-Kamera, Typ 34, digital
(1) LP-Kameraoptik und Beleuchtung
(2) Kameraverstärker
3.8.7.2 Technische Daten
3
LP-Passmarken Bis zu 3 (Einzelschaltungen und Mehrfachnutzen),
bis zu 6 bei der Option "Lange LP" (optionale Marken werden
von der Optimierung ausgegeben).
Lokale Passmarken Bis zu 2 pro LP (können verschiedenen Typs sein)
Bibliothekspeicher Bis zu 255 Passmarkentypen pro Einzelschaltung
Bildverarbeitung Kantendetektionsmethode (Singular Feature) auf Basis der
Grauwerte
Beleuchtungsart Auflicht (3 frei programmierbare Ebenen)
Erkennungszeit pro
Marke/Schlechtmarke
20 ms - 200 ms
Gesichtsfeld 5,78 x 5,78 mm²
Abstand der Fokusebene 28 mm
3 Technische Daten des Automaten Betriebsanleitung SIPLACE X-Serie
3.8 Visionsystem Ab Softwareversion SR.605.xx Ausgabe 07/2008 DE
162
3.8.7.3 Passmarken-Kriterien
3
3.8.7.4 Inkpunkt-Kriterien
3
2 Marken ermitteln
3 Marken ermitteln
X- / Y-Position, Verdrehwinkel mittlerer LP-Verzug
zusätzlich: Scherung, Verzug separat in X- und Y-Richtung
Markenformen Synthetische Marken: Kreis, Kreuz, Quadrat, Rechteck, Raute,
kreisförmige, quadratische und rechteckige Konturen, Doppel-
kreuz
Muster: beliebig
Markenoberfläche
Kupfer
Zinn
Ohne Oxidation und Lötstopplack
Wölbung ≤ 1/10 der Strukturbreite, jeweils guter Kontrast zur
Umgebung
Maße synthetischer Marken
Min. X/ Y-Größe für Kreis und Rechteck:
Min. X/ Y-Größe für Kreisring und Rechteckrahmen:
Min. X/ Y-Größe für Kreuz:
Min. X/ Y-Größe für Doppelkreuz:
Min. X/ Y-Größe für Raute:
Min. Rahmenbreite für Kreisring und Rechteckrahmen:
Min. Balkenbreite/Balkenabstand für Kreuz, Doppelkreuz:
Max. X/ Y-Größe für alle Markenformen:
Max. Balkenbreite für Kreuz, Doppelkreuz:
Min. Toleranzen generell:
Max. Toleranzen generell:
0,25 mm
0,3 mm
0,3 mm
0,5 mm
0,35 mm
0,1 mm
0,1 mm
3 mm
1,5 mm
2% vom Nennmaß
20% vom Nennmaß
Maße von Mustern
Min. Größe
Max. Größe
0,5 mm
3 mm
Markenumgebung Freiraum um die Passmarke nicht notwendig, wenn sich inner-
halb des Suchfeldes keine ähnliche Markenstruktur befindet.
Methoden - Synthetisches Markenerkennungsverfahren
- Mittlerer Grauwert
- Histogramm-Methode
- Template Matching
Größe der Markenformen bzw.
Strukturen
Synthetische Marken
Andere Verfahren
Maße synthetischer Marken siehe Abschnitt 3.8.7.3 Passmar-
ken-Kriterien, Seite 162.
min. 0,3 mm
max. 5 mm
Abdeckmaterial Gut deckend
Erkennungszeit Je nach Methode 20 ms - 0,2 s