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JaNets 使用说明书 7 编辑程序 7- 55 7-4-3-8 元 件检查详细信息 设置画面 选择树形控件里 的「元件数据」 - 「检查」 ，则显示此画面。 芯片站立检查 图 7- 77 检查芯片站立画面 表 7- 43 检查芯片站立 项目 项目 内容 检查芯片站立 是 / 否 / 如果可能 通过单选按钮对是否使用检查芯片站立进行选择。 默认值为 ｢ 如果可能 ｣ 。 检查芯片站立 判定值 在检查芯片站立的指定中，选择了 ｢ 是 ｣…
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贴片条件画面 (JM-100 系列)
图 7-76 贴片条件（JM-100 系列）画面
表 7-42 贴片条件（JM-100 系列）画面项目
项目
说明
贴片深度补偿 指定在元件贴片时的吸嘴前端补偿量。
真空控制
指定是否进行吸取时的真空时间调整。
调整时，要以 ms 为单位输入调整时间。
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7-4-3-8 元件检查详细信息设置画面
选择树形控件里的「元件数据」-「检查」，则显示此画面。
芯片站立检查
图 7-77 检查芯片站立画面
表 7-43 检查芯片站立项目
项目
内容
检查芯片站立
是/否/如果可能
通过单选按钮对是否使用检查芯片站立进行选择。
默认值为｢如果可能｣。
检查芯片站立
判定值
在检查芯片站立的指定中，选择了｢是｣｢如果可能｣时可以进行输入，在判定值中
输入高度。输入范围根据元件种类有所不同。
检测吸取位置偏移
图 7-78 检测吸取位置偏移画面
表 7-44 检测吸取位置偏移项目
项目
内容
检测吸取位置偏移
是/否
通过单选按钮对是否使用检测吸取位置偏移进行选择。
默认值为｢否｣。
检测吸取位置偏移
判定值 高度
在检测吸取位置偏移的指定中，选择了｢是｣时可以进行输入，在判定值中输入高度。
输入范围的默认值根据元件尺寸、供给角度而有所不同。
共面检查
图 7-79 共面检查画面
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表 7-45 共面检查项目
项目
内容
共面检查
是/否
用单选按钮在元件种类中选择了引脚元件时，可以对共面的单选按钮进行选择，通过
单选按钮选择是否执行元件的引脚翘起检查。
默认值为｢否｣。
共面检查
判定值 高度
共面检查的指定选择了｢是｣时可以进行输入，输入判定值。
输入范围为 0.01～1.00 mm（默认值：0.20）。
共面检查
电极尺寸 宽度、长度
共面检查的指定选择了｢是｣时可以进行输入，输入电极尺寸的宽度和长度。
输入范围为 0.00～3.00 mm（默认值：0.00）。
共面检查
电极光泽信息
共面检查的指定选择了｢是｣时可以进行选择，通过组合框选择电极光泽信息。
从｢通常｣、｢有光泽｣、｢无光泽｣中选择。默认值为｢通常｣。
共面检查
电极明亮度的阈值
共面检查的指定选择了｢是｣时可以进行输入，输 入 电极明亮度的阈值。输入范围为 5～
120。
默认值
球形元件 ： 50
球形元件以外
电极光泽信息通常 ： 40 电极光泽信息中有光泽 ： 80
电极光泽信息为无光泽 ： 15
共面检查
激光强度
共面检查的指定选择了｢是｣时，通过组合框选择激光强度。
输入范围为 0～7（默认值：7）。
共面检查
测定高度偏移量
共面检查的指定选择了｢是｣时可以进行输入，输入测定高度偏移量。
输入范围为-4.00～4.00 mm（默认值：0.00）。
共面检查
扫描位置偏移量
共面检查的指定选择了｢是｣时可以进行输入，输入扫描位置的偏移量。
输入范围为 0.00～3.00 mm（默认值：0.00）。
共面检查
AGC 补正值
共面检查的指定选择了｢是｣，通过组合框选择 AGC 的补正值。输入范围为 0～5（默认
值：3）。
共面检查
测定模式
共面检查的指定选择了｢是｣时可以进行选择，通过组合框选择测定模式。
从｢自动设置｣｢标准测定模式｣｢高精度测定模式｣中进行选择。
默认值为｢自动设置｣。
共面检查
曝光时间
共面检查的指定为｢是｣时可以进行输入，输入共面传感器内相机的曝光时间。
输入范围为 1～1000（默认值：100）。
共面检查
引脚偏移量
下、右、上、左
共面检查的指定为｢是｣时可以进行输入，输入元件外形的端点到引脚前端的偏移量
（下、右、上、左）。
引脚偏移量，因元件种类不同可以设置的项目也不同。
输入范围为 0.00～50.00 mm （默认值：0.00）。
共面检查
检查角度
设置检查时的元件角度。
输入范围为 0～359 （默认值：0）。
共面检查
代替检查角度
从「90°,180°,270°」「 180°」「 否」中进行选择。
默认值为「90°,180°,270°」。