神州视觉ALD编程培训教材_F5D37.pdf - 第11页

第二天 :算法原理讲解(重点) 检测算法是设备测试的核心,使用正确 的算法可以达到更好 的测试效果 必须掌握的常用算法: 讲解时间大约花费 3 至 4 小时,因为算 法比较重要,需要 更多的时间去讲解并给时间技术员去实 际操作及理解

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IC相对于其他零件多增加了一个短路检测框
画框大小及位置如左图
第二天:算法原理讲解(重点)
检测算法是设备测试的核心,使用正确的算法可以达到更好的测试效果
必须掌握的常用算法:
讲解时间大约花费34小时,因为算法比较重要,需要
更多的时间去讲解并给时间技术员去实际操作及理解
MATCH算法:(应用模式:
锡膏板,红胶板,波峰焊
Match 算法:
一般应用在元件本体,主要起定位作
利用元件框框住所需要检测的区域并生成标准图,
然后以此标准图与其它的元件本体进行图片的对
比检测,左图中上下限为图片的差异范围值
也就是说标准图与待测图之间的图像相差值在设
定的范围之类则OK,否则NG
OK, NG
此算法主要检测图像差异
算法扩展应用:
可以应用在字符上,如右图
把“103”当作一张图像来进行检测
上下限根据实际情况调控,上限越小越严格