IPC CH-65B CHINESE.pdf - 第196页

12.9.1 过 程 变 量 像 化学清洗 方 面一 样 重 要, 纯 粹 物理 的 机 制 起 着 重 要 作 用。一 般 说 来, 使 用的 热 量及 机械 能量 越 高 ,清洗 效果 越好 。 12.9.1.1 清洗剂 浓 度 清洗 剂 浓 度是 清洗 剂 性能的一个参 数 ,此 外 清洗 温 度 、 机械 力 也 起 作 用。 12.9.1.2 清洗剂 温度 由 于 清洗 剂 温 度 的提 高 , 溶剂型 污染 物溶 解 得 更…

100%1 / 215
12.9 清洗设备体管理持一个的清洗制(清洁设
及工清洗化学(单一容多种独在的容)的分析是不可的。
出的关穿透与电路板间距小的组件部的焊剂。通风管理
减少在工区的化学使出的清洗气
量为小。液体长清洗
寿命的关体控制关正确的清洗槽浓在清洗制程允许的公以内
,清洗设体控制的设计会影清洗制程的有性。因素如高的清洗消耗
量、设出的汽、在清洗及程中的起泡损耗这些因素中的一个或者
因素失调导致出现不的清洗备最初充满清洁化学动时,制程问题
可能不会
慢慢出现。导致更高缺陷的为在元器
隙以及表面白色残留物和不可残留
选择清洗设备需考虑许多因素成本评估之外因素值得考虑
清洗和清洗清洁要求严格的组件?
设计以将清洗洗和(适用式以
分段式槽?
•加的设?
•从机器生产阶段响应
满足清洗生产量的要求?
•蒸汽能机器散掉?
评估
清洗溶剂水分离效率
收集的清洗后续
再利
清洗有一个
清洗罐每转多?
化学添加
备是否受器或者机控
印章、材料清洗兼容
机器组件
清洗困难组件的通过率是什么?
噪音等级
成本
•耗
排放积量
的能成本
用的空间?
的清洗/部件成本
能力
系统允许使可)
在工人安全的工程制及员工保护系统业的评估?
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12.9.1 化学清洗面一要,物理用。一来,使用的
量及机械能量,清洗效果越好
12.9.1.1 清洗剂清洗度是清洗性能的一个参,此清洗机械用。
12.9.1.2 清洗剂温度 清洗的提溶剂型污染物溶使焊剂变
更温快地焊剂高温
时可减少洗的取决清洁设、清洗、污
元器件。
12.9.1.3 清洗剂时间 清洗时元器件的隙高很强的关性。芯片μBGA芯片
LGA芯片QF芯片薄片电容及其组件类型组件与电路板表面的大小列而
减少。组件隙高3-5mils要求提清洗时穿透所有助焊剂残留。对密度组装
细间距元器件的组件,必须长时的清洗选择使用清洗设及清洗
考虑因素
12.9.1.4 为了改善清洗细间距元器效果,研究数据表明动、板表面的力、
力和清洗时改善制程清洗。清洗设的清洗部分是当重要的。研究数据发现表明在清洗
阶段未完消除助焊剂残留阶段无法去了在清洗中要求的
量。
过使用各
技术可实现清洗。为了3-5mil下的助焊剂残留,清
洗时及清洗度是。在回流焊过润湿助焊剂穿透小的组件成一个助焊
。为了助焊剂,清洁必须首残留物产生一个使清洗
动到组件的部。助焊剂残留物需长的了清洗的复杂性。
12.9.1.4.1
量通量(GPM表示。在清洁程中所
GPM基于进入净、设中的水管型号
量、收率。有充足应是非常重要的,容积有限的清洗
一个大量水或者化学与以满足
一个清洗程所量。允许
液体使用。一个能源消耗大容积的个清洗系统
类型将改量的限制。特定要求选择
是考虑点在通一个环系统,可少补
泄漏必须个容
积。
12.9.1.4.2 电路板设计的复杂性和在在组件和下小的,适用
电路板的力量所有污染的关。通板的部和部的各种喷和可调喷,可
现不力。和力量的大小由喷和板面距离的。
12.9.1.4.3 板⾯的在板面的或者冲量的。影板面的力的主要因素
有:
过水水管量。
的出力。
•喷量和类型(可以根据施的限制来或者减少力)
•流和板表面的距离距离,在板面的大)
过控 这些量, 或者减少板面的力。要的要在板的表面到适的平
力,使清洗污染,而不会破坏脆弱的部件。一个清洗系统可能
的在程中
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允许这些量,选/互换、可调式喷速控制的性,助于
使在板面上产生最清洗效果
12.9.1.5 控制清洗的清洗的。在水溶液中的程中,清洗使清洗水变
进入,和洗涤液带出的化学物质类型损失
小化,持一个有成本效益程。本节提监测动化制、洗环境
环境寿命长的信息。
12.9.1.5.1 清洗槽监 清洗监测用的方法定法折射率检测的相关性检测和洗
分析
12.9.1.5.2 定法 用来表述在性洗过测由碱在清洗中的物质
作者应PH间是10
(对pH用来溶液度/
pH值范围0-14是产品子的。在pH值为子(H
3
O+)的度是一个,而在PH14时,子(OH-)为一话说pH值不一个
线性的关,一个pH值为10PH值为9
许多水基清洗用的PH值为911定过是测量清洁洗中可得的
平的性。平的性与相关。
这种适用以皂化为的清洗样也适用
溶于水很少不含有机原材料的性清洗。在清洗会与残留物情况下,
性清洗要。
12.9.1.5.3 折射 介质折射率是过测或者)在介质中的降低量得
到的。玻璃1.5折射在其中的速度是
中的2/3玻璃
明材料的性都与折射有关 。第一,线气到材料面时线会变方
点应。第二,线在不折射材料的面时会发反射。在问题时,
折射用来测定的含量。文章与清洗有关。用测定折射方法基于溶有清洗
的污染方法这种方法十分适用未经的清洗
12.9.1.5.4 清洗室监控技术 机原材料设计而成的清洗分溶成明
。通溶剂密度清洗溶液处于静态时,溶剂在表面。清洗中的
分搅拌时,溶剂状态分清洗机搅时,不能溶剂在了清
的表面。解层表现了溶剂和其的污和成
溶剂
相表现为溶剂和其它附着溶于水的清洗的材料。
运用的技术会比较监测像滴折射。通中和清洗达到一个
)来关清洗,不能明有机原材料。比起相,折射指有相为不可
折射不一监测技术包不限使分离的技术。
12.9.1.5.5 化清洗机操控 清洗在不范围操作。不据它的工
技术提系统
12.9.1.6 化学 配比许多种设计途径水速降低阳极
及通量动力装清洗加入时,配比
添加清洗个装设计在一 的清洗范围。在工范围当添加
时,清洗达到平。文过变面积大小来清洗
,通要一个力来添加。为了证化学配比持清洗在设计
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