FX-3_Instruction_Manual_Rev00_C.pdf - 第511页
第1部 基本编 第4章 制作生产程序 4-181 3)单独测量结果 单独测量结束后，显示如下的结果画面。 图 4-5-4-2-3-7 单独测量结果 a) 全体的进展状况 在 进度条上显示当前的进展状况。 b) 测量元件 显示测量元件的内容。
第1部 基本编 第4章 制作生产程序
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因元件的包装方式而有所不同，当元件尺寸在1mm以下时，会显示询问测量后的元件是归
还、或是废弃。
图 4-5-4-2-3-4 确认是否归还元件
根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时，显示如下询问。
图 4-5-4-2-3-5 询问是否更新激光高度
图 4-5-4-2-3-6 询问是否更新芯片站立判定高度
●是：用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否：忽略新测量值，使用原来的设定值。
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3)单独测量结果
单独测量结束后，显示如下的结果画面。
图 4-5-4-2-3-7 单独测量结果
a) 全体的进展状况
在进度条上显示当前的进展状况。
b) 测量元件
显示测量元件的内容。
第1部 基本编 第4章 制作生产程序
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c) 测量结果
显示测量前和测量后的值。
未进行测量的项目显示***。
●变幻线
从激光单元取得检测(SWEEP)数据，可显示出元件轮廓图（变幻线）。
图 4-5-4-2-3-8 变换线
d) 确定(F8键)
使测量结果有效，将结果值储存在元件数据中。然后返回原来的单独测量条件的设置画
面。
e) 取消(ESC键)
使测量结果无效，然后返回原来的单独测量条件的设置画面。