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IPC-9704a-3-09-cn 图 3 - 9 BGA 压块⼲涉 P WB FR4 应变片 应变片 切除 的 BGA 角 落 部分 切除 的 BGA 角 落 部分 形 心 外围型 BGA 支 撑块 BGA ICT 治具 上 模 IPC-9704a-3-10-cn 图 3 - 10 ICT 探针⼲涉 P WB FR4 测试 点或压 棒 切除 的 BGA 角 落 部分 切除 的 BGA 角 落 部分 应变片 应变片 ICT 治具 上 模…

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于变化度情况下的应变测量,应变片敏系在该度范围内是的,那么应变片
膨胀CTE是非常重要。如果情况那么应变片CTE该与印制板基
材相匹配
预先连接引线应变片都可以使用根据偏好应用选择
预先连接引线应变片点是引线要在应变片粘附过程中量的
线就比困难了。引线重新接,线不能。工焊引线可能导致路。
20~50显微引线接。
元器件局部弯曲应变片读数变化此,应变片放置必须。在任何可
情况下,应变片应被放置在下述的位如果不可那么基于开发的应变
。在这种情况下,应变片放置他位置进行应变以外还需使用其
风险评估方法(即破性的失效分析
3.3.1 ⾯阵列元器件的应变⽚放置位
除非用供应商之一个
不同的位上达成一否则
应变片放置置是应变片放
元器件所有PCA
面,且应变花(不是应变花)的
中心位于距封装沿3.56±0.25mm[0.14
±0.01in]平行线上,如图3-
8所示。为了评估插座应变风
应变片应焊点互放置
而不
3-8中的e1e3分别与封
沿平行3-8中的e2
封装对角线线上。一
应变片放置对测试位采样之数据关性是至关重要的。
应变片BGA元器件可能会为元器件不同的约束件而。在这些情况下,
可能BGA封装放置应变片。这,包括相关的文件,都该在测试报告
进行说明。应变片放置置应该精和一。在一个元器件、或其他的物干涉
放置情况下,策略几段将讨实例
可能在有些情况没必
件的所有上都放置应变片如当两更多的器件紧邻或堆叠
。在这种情况下,用分析技术者计算模型确定最高应变减少所要求的应变片
量。所有的支持假设分析必须形式记录在测试报告中。
如果可能,建在元器件周围出一个无元件区放置应变片减少元器件印制板弯曲
可能在有些情况应变片放置机械的限例如ICT治具上有应变片放置
ICT探针BGA压块。这类情况范例如图3-93-10所示。
在这些情况下,切除部分元器件考虑最后方法。在这种情况下,任何元器件的
角被切除后应变片放置PCA拐角处焊盘上。应变花
应变栅e1e3该与封装沿平行应变栅e2该位封装对角线线上,沿封装的对角线
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3-8 球栅阵列元器件推荐的应变⽚放置位置
e3
e2
3.56mm
3.56mm
e1
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10
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3-9 BGA压块⼲涉
PWB FR4
应变片应变片
切除BGA部分
切除BGA部分
外围型 BGA 撑块
BGA
ICT治具
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3-10 ICT探针⼲涉
PWB FR4
测试点或压
切除BGA部分 切除BGA
部分
应变片应变片
ICT治具
BGA 撑块
BGA
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。在3-11中对这放置做了明。是切除元器件的角改变了封装的
机械不能反映界条件。如果使用该方法,附加评估方法(
失效分析)来充分地评估风险
元器件切除部分应可能能方便地放置
应变片为准。3-12出了实例图
元器件上的应变片会重情况
下,使用块板进行测试。建在同一块板
放置同一元器件所有上的应变片
3.3.2 ⾮⾯阵列元器件的应变⽚放置位置 除非
供应户之一个不同的位上达成一
否则。对于芯片级引线
陶瓷元器件风险评估,可以使用轴或轴应
变片放置置是应变片边缘离元器
件的1.0mm与元器件的长
。示见图3-13
3.4 应变⽚粘附 印制板的准是应变片粘附过
程的关键环正确印制板备将于确
应变片被当地粘附读数的准
性。
按照应变片供应
应变片粘附是应变片要求使
系统。与
片供应
取更多的信
印制板应变片粘附的建议如
IPC-9704a-3-11-cn
3-11 应变⽚形⼼置于拐⾓处的焊盘上
BGA边沿
应变花
e3
e2
e1
BGA
堆叠应变花放置PCB
拐角处焊盘
•切除BGA部分应可能
能方便地放置应变花为准
测试
外围型BGA撑块
拐角处焊盘
3-12 切除元器件以便于应变⽚放置
3-13 MLCC封装的单轴应变⽚的放置位置(距焊料
填充处⼩于1.0 mm
小于1 mm
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