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附录 B 术语表 ASTM 美 国 材 料与测试学会 AW G 美 国 线规 BGA 球栅阵 列 BFT 板 功 能测试 CSP 芯片尺寸 封装 CTE 热膨胀 系 数 CAD 计算机 辅 助 设 计 DIMM 双 列 直 插内 存 模块 EIG 化 学 镀镍 / 浸 金 EBGA 增 强 型球栅阵 列 FEA 有限元 分析 FCBGA 倒 装 芯片球栅阵 列 HASL 热 风焊 料 整 平 ICT 在 线 测试 JEDEC 电子器件…

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要有可能,可能顶部部印制板撑柱放置在一近似线上,使材间层叠
步减少UUT上的应变当放置印制板撑柱时,建议印制板撑柱与元器件沿
1.3mm间隙见图A-3。此,在有大量探针PTH连接器上放置撑块是允许的。
应变花应供应规范放置在有要的UUT上。如果可能,使用有限元分析作应变花
放置预计应变范围南。
如果引线放置印制板撑柱下面,可能会受损,而测试结果也可能大。为了正确地放
置应变花导线,建测试治具印制板撑柱布局图要,可放置
应变花下面或附小元器件(电和电。同要,为了导线引线布局
元器件可在不影响应变测试结果情况被
IPC-9704a-a-03-cn
A-3 元器件与⽀撑柱的间和正⽀撑柱对位图
1.3mm[0.050in]
顶部撑柱与元器件沿间间隔1.3mm[0.50in]
顶板
针板
印制板撑柱在一线减少UUT上的应变
顶部印制板撑柱
部印制板撑柱
停止
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附录 B
术语表
ASTM 料与测试学会
AWG 线规
BGA 球栅阵
BFT 能测试
CSP 芯片尺寸封装
CTE 热膨胀
CAD 计算机
DIMM 插内模块
EIG 镀镍/
EBGA 型球栅阵
FEA 有限元分析
FCBGA 芯片球栅阵
HASL 风焊
ICT 线测试
JEDEC 电子器件程联合
PCI 外设部
PVC 氯乙烯
PM 防维护
PWB 印制线
PWBA 印制线组装
SOP 外型封装
SMT 表面装技术
TBGA 球栅阵
UUT 测单元
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