IPC-JEDEC-9704A CHINESE.pdf - 第30页

此 页留 作 空白 IPC / JEDEC - 9704A 2012 年 2 月 22

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附录 B
术语表
ASTM 料与测试学会
AWG 线规
BGA 球栅阵
BFT 能测试
CSP 芯片尺寸封装
CTE 热膨胀
CAD 计算机
DIMM 插内模块
EIG 镀镍/
EBGA 型球栅阵
FEA 有限元分析
FCBGA 芯片球栅阵
HASL 风焊
ICT 线测试
JEDEC 电子器件程联合
PCI 外设部
PVC 氯乙烯
PM 防维护
PWB 印制线
PWBA 印制线组装
SOP 外型封装
SMT 表面装技术
TBGA 球栅阵
UUT 测单元
20122 IPC/JEDEC-9704A
21
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IPC/JEDEC-9704A 20122
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ANSI/IPC-T-50 电子电路互连与封装术语及定义
定义提交/审批表
此表是为了及时收录行业中广泛使用
的术语和定义,以修订本标准。
欢迎个人或单位参与发表意见。
请填写此表并反馈给:
IPC
3000 Lakeside Drive, Suite 309S
Bannockburn, IL 60015-1249
传真: 847 615.7105
申请人信息:
姓名:
公司名称:
所在城市:
所属国家:
电话号码:
日期:
新的术语及定义的申报.
对原有术语及定义的补充.
对原有术语及定义的修改.
术语 定义
如空间不足,请写在背面或附页上.
插图: 不适用 ❑ 要求 ❑ 待提供
包括: 电子文件名称:
适用此术语及定义的文件:
与此术语及定义相关的委员会:
IPC 内部填写
IPC Office Committee 2-30
Date Received: Date of Initial Review:
Comments Collated: Comment Resolution:
Returned for Action: Committee Action:
Revision Inclusion: Accepted Rejected Accept Modify
IEC Classication
Classication Code • Serial Number
Terms and Denition Committee Final Approval Authorization:
Committee 2-30 has approved the above term for release in the next revision.
Name: Committee: IPC 2-30
Date: