JM-20_程序员2.pdf - 第264页
操作手册 Ⅱ 2- 231 2-5-4-2-3 测量操作 (1) 单独测量 只对被选择的元 件进行测量。 1) 设置单独测量的条件 从菜单栏中选择 「 机器操作 」 / 「测量」 / 「 单独测量 」 后，显示如 下画面。 a) 测量元件 显示要测量元件 的内容。 b) 吸取坐标 显示吸取元件的 吸取位置的内容 。可以更 改为前代替元件 和后代替元件 的吸取位置。 在没有吸取数据 的情况下，各项 目为非显 示，不能进行吸 取位置的变更 …
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(3)
关于进行测量时的各项运行
1)
用于吸取的
Head
可自动选择用于吸取的Head。使用Head时，优先使用已安装的吸嘴，以减少吸嘴的更换次
数。
根据吸嘴的Head安装情况，每次测量时，吸取的Head可能不同。并且，在方向判别测定中，
可以选择吸取所使用的贴片头。
2)
测量后归还元件
按照设置，测量后的元件将被归还原来的位置或被废弃。具体因包装方式而异（如下表所
示）。
废弃时，根据元件数据中「元件废弃」的设置，废弃到指定的地方。
1mm以下的元件，归还时可能出现元件直立或翻倒，请根据询问选择运行。
包装方式
条件
归还
废弃
带状
外形尺寸短边
1mm
以下
确认*1
外形尺寸短边
1mm
以上
○ ○*2
散装
外形尺寸短边
1mm
以下
确认*1
外形尺寸短边
1mm
以上
○ ○*2
托架
○ ○
*2
MTS
○ ○
*2
管状
－ ○
INS
状带
－
○
INS
散装
－ ○
*1 显示提示信息，选择是将元件归还还是废弃。连续测量时，在开始前询问。
*2 当废弃方法为「IC 回收带」「元件保护」时，将按设定进行处理。
3)
选择用于吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据)，初始值为从最初输入的数据开始吸取元件。
单独测量、方向判别测定时，可根据需要改变供给装置。
4)
改变吸取坐标
无法顺利吸取时，可用手动输入或进行坐标示教，改变吸取坐标。在方向判别测定中，虽然
不能变更吸取坐标，但通过设定偏移量可以移动吸取坐标。使用示教按钮或HOD器件可以进
行示教。不反映在吸取数据中。
5)
手动吸取
当没有吸取数据时，可用手动将元件安装到吸嘴上。但在这种情况下，不能输入吸取坐标。
也不能操作供料器。
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2-5-4-2-3 测量操作
(1)
单独测量
只对被选择的元件进行测量。
1)
设置单独测量的条件
从菜单栏中选择「机器操作」/「测量」/「单独测量」后，显示如下画面。
a)
测量元件
显示要测量元件的内容。
b)
吸取坐标
显示吸取元件的吸取位置的内容。可以更改为前代替元件和后代替元件的吸取位置。
在没有吸取数据的情况下，各项目为非显示，不能进行吸取位置的变更、送料和示教。
● 把示教结果反映在吸取数据上
选择是否将使用示教功能的示教结果反映在吸取数据。不勾选时，坐标仅适用于此次吸取时。
● 送料
顶推一次供料器，送出元件。
但径向供料器 MRF-L 的供料器类型为 2 次传送时，执行 2 次顶推传送元件。
＜径向供料器／轴向供料器使用时的注意要点＞
对于径向供料器／轴向供料器，在 以下的状态下按下[送料]按钮，元件会在供
料器中阻塞，敬请注意。
・ 吸取位置上有元件的状态下
・ 对于径向供料器类型 MRF-L／轴向供料器类型 MAF-L，误设定供料器类
型的状态下
注意
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●夹紧
仅径向供料器时可以使用。对径向元件执行夹紧（切割）。
●解除
仅径向供料器时可以使用。对径向元件实施夹紧解除（解除切割）。
＜变更吸取坐标的方法＞
用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可使用示教功能进行贴片坐标的示教。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1) 要示教XY坐标时，将光标移动到X或Y坐标。
（要进行Z坐标的示教时，请将光标移动到Z坐标。）
步骤 2）按下功能栏的[示教]按钮，打开示教画面。
进行坐标示教，按下[OK]按钮，取得所示教的坐标数据。
c)
测量项
选择需要测量的项目。默认为选择所有可测量的项目。根据元件类型，可测量的项目有所不
同。
d)
使用
Head
可选择测量时使用的 Head。
从组合框的列表中选择要使用的 Head。
e) [
单独测量
]
按钮
执行单独测量。
f) [
前代替元件
]
按钮、
[
后代替元件
]
按钮
如果当前显示的元件有代替元件时，显示此项。
g) [
返回
]
按钮
结束单独测量，返回到原来的画面。
h)
补正后引脚伸出量
仅限轴向元件才会显示此项。
设定吸取高度测量中轴向吸嘴吸取元件时，引脚从吸嘴前端伸出的长度。