TR7500QE_Software_ch_v3.0_20171101.pdf - 第123页

Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 100  相似度：設定待測影像 與標準影像的 相似度 標準值。當待測 物與標準值的相 似度低於設定 值，即視為不良。  基本參數與其對應的合格 標準  3D 模式：開啟或關閉 3D 模式。 − 顯示模式 ：選擇使用 2D I mag e 或者 3D Heig htMap 。  影像模式：選擇影像的 比對方式為權重法 …

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Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 99
圖 161：形態濾波過濾功能效果
3.6.5 逐點匹配(CorMatch)框
1) 用途：主要用來檢查積體電路導腳之缺件、偏移、腳彎與 0201 尺寸以下晶片元件的缺件、
損件、偏移、立碑、極性。
2) 檢測原理：利用影像中一個個畫素的灰階值比對來計算其相似度。
3) 參數畫面與說明：
圖 162：逐點匹配框參數設定畫面
硬體設定
相機：顯示目前檢測框所在的相機位置。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
一般合格標準
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TR7500QE User Guide–Software 100
相似度：設定待測影像與標準影像的相似度標準值。當待測物與標準值的相似度低於設定
值，即視為不良。
基本參數與其對應的合格標準
3D 模式：開啟或關閉 3D 模式。
− 顯示模式：選擇使用 2D Image 或者 3D HeightMap。
影像模式：選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法，預設為色彩空間法。
定位模式：區分為 Normal 及 Warp 模式，Normal及一般檢測，Warp為定位補償，Fail
時不會顯示在測試視窗。
偏移模式：選擇使用 Normal、ShiftXY 或 Boundary 模式來測試位移。
− Normal：可以個別設定 X方向與 Y 方向的偏移容許值。
− ShiftXY：設定 X與 Y 方向的總位移量(X、Y位移的平方根)的容許值。
− Boundary：設定一個邊界作為檢測時的判定基準。當勾選此選項時，參數設定的
ShiftX 與 ShiftY 會變成 Boundary/X 與 Boundary/Y。當檢測結果超出此範圍時視為不
良。
• X 偏移：設定 X方向偏移的容許值。當檢測值小於設定容許值時會判定為合格。
• Y偏移：設定 Y方向偏移的容許值。當檢測值小於設定容許值時會判定為合格。
3.6.6 引腳檢測(Lead)框
1) 用途：用來檢查積體電路導腳的偏移、彎腳或翹腳。
2) 檢測原理：利用積體電路腳其頭端、尾端與焊盤的色彩來進行定位。
3) 參數畫面與說明：
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圖 163：引腳檢測框參數設定畫面
硬體設定
相機：顯示目前檢測框所在的相機位置。
燈光：選擇使用均勻光、錫形燈源、低角度燈源或者白燈，預設為錫形燈源。
基本參數與其對應的合格標準
影像模式：選擇影像的比對方式為權重法、色彩空間法或 RGB 法，預設為色彩空間法。
偏移模式：選擇使用 Normal、ShiftXY 或 Boundary 模式來測試位移。
− Normal：可以個別設定 X方向與 Y 方向的偏移容許值。
− ShiftXY：設定 X與 Y 方向的總位移量(X、Y位移的平方根)的容許值。
− Boundary：設定一個邊界作為檢測時的判定基準。當勾選此選項時，參數設定的
ShiftX 與 ShiftY 會變成 Boundary/X 與 Boundary/Y。當檢測結果超出此範圍時視為不
良。
• X 偏移：設定 X方向偏移的容許值。當檢測值小於設定容許值時會判定為合格。
• Y偏移：設定 Y方向偏移的容許值。當檢測值小於設定容許值時會判定為合格。
檢測模式：選擇使用 Color Analysis 或 CorMatch 模式。
1. Color Analysis 模式
圖 164：檢測模式 – Color Analysis
• 檢查一致性：對同一排的 IC 腳進行互相比對的動作。
圖 165：Lead 框 – 確認一致性功能檢測結果
• 彎腳測試：進行 IC 腳彎腳的測試。若 IC腳有超出焊盤的範圍，會被判定為彎角(預設
檢測範圍是 lead 框寬度 / 2，長度 / 3)。如下圖的範例，超出的範圍約為 60%。
翹起
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