TR7500QE_Software_ch_v3.0_20171101.pdf - 第362页
Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 339 8.2 Laser3D 框 自動學習功能 此機種無法使用此功能 。
Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 338
編輯遮罩
• 編輯高度：設定進行遮罩的高度。
• 圖案展開：會依照所選擇的遮罩影像，自動在其他相似影像的位置新增遮罩。
• 刪除：刪除新增的遮罩。
動態遮罩
• 擷取色彩：使用色彩空間擷取要做為遮罩區域的顏色。
測試運行
• 此畫面：當下原圖影像畫面的測試。
• 教導：進行教導圖檔的測試。
檢測模式
• 前景圖像：顯示教導用的原始圖檔。
• 顯示所有的框：顯示所有的檢測框。
離開
• 離開異物檢測功能設定。
步驟7. 按下 ，系統會自動儲存將作為教導用的圖檔。
步驟8. 回到[開始]>[流程配置]>[一般設定]中取消勾選 “異物檢測教導模式” 並將模式變更回“連線
模式”。
步驟9. 按下 進行檢測，當有異物落在檢測電路板時，會顯示出異物位置並標示為缺陷。
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TR7500QE User Guide–Software 339
8.2 Laser3D 框自動學習功能
此機種無法使用此功能。
Test Research, Inc.
TR7500QE User Guide–Software 340
8.3 多件檢測
用途：用來檢查在 SMT 製程中不須上件的位置是否有多上件的問題。
備註：此功能的檢測速度比異物檢測功能還要快速。此外，當開啟功能時，會影響資料庫設
定。
操作流程：
步驟1. 在原圖模式下，選擇要測試多件的元件檢測框 。
步驟2. 在框屬性取消勾選[上件]。此範例以 3D高度來測試多件。
圖 530：取消勾選[上件]功能
步驟3. 將絕對高度設定為沒有元件的高度，使檢測框檢測結果為不良。
圖 531：設定絕對高度為無元件的高度值
步驟4. 選擇[開始]>[產品配置]，並勾選 “多件檢測”功能。