TR7500QE_Software_ch_v3.0_20171101.pdf - 第189页

Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 166 3.7.4 二極體、鉭質電容 圖 265 ：二 極體、鉭質 電容元件所需檢 測框說明 演算法： OC V 框 用途：檢測錯件 演算法： PatMatc h 或 Chip 框 用途：檢測缺件 演算法： V oid 框 用途：檢測空焊 演算法： V oid 框 用途：檢測極反