TR7500QE_Software_ch_v3.0_20171101.pdf - 第288页
Test Research, Inc. TR7500Q E User Gu ide – S o f twar e 265 不測尺寸：當檢測框尺 寸符合條件時不產 生該檢測框。例如 ：設定 <300 ，表示當 尺寸計算結果小於 300 μm 時，此檢測框不會產 生，一般用在電阻 0603 以上會有 電阻值背文時用 OCV/Pa tmatch 來檢測錯件， 040 2 以下無背文所以不需產生該檢 測框。 4) 新增代料， Chip/P…
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另外，此功能的操作步驟如下：
1) 點選編輯按鈕，畫面右上角會出現提示，如下圖所示。
圖 420：模組化元件庫提示
2) 從模組化資料庫點選欲編輯的類型；
3) 點選欲編輯的檢測框；
可直接編及檢測框位置、大小、參數的方程式；
字元定義：
B：本體（Body）
PN：導腳(Pin)
PA：父(Parent)
W：使用者所看 X 方向長度(Width)
H：使用者所看 Y方向長度(Height)
X：X 座標
Y：Y座標
例如：
BX：本體的 X 座標；
PNH：導腳 Y方向的長度
圖 421：模組化元件庫編輯視窗
最大尺寸：公式所計算出來的值，必須≦最大值。
最小尺寸：公式所計算出來的值，必須≧最小值。
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不測尺寸：當檢測框尺寸符合條件時不產生該檢測框。例如：設定<300，表示當
尺寸計算結果小於 300μm 時，此檢測框不會產生，一般用在電阻 0603 以上會有
電阻值背文時用 OCV/Patmatch來檢測錯件，0402 以下無背文所以不需產生該檢
測框。
4) 新增代料，Chip/Patmatch/CorMatch/Lead 可以先取代料再調整好權重或色彩，套
用時會以檢測框位置重新挖取影像並套用相關參數。
5) 編輯完成後，再按一次編輯或圖示按鈕會出現提示視窗，如下圖所示，詢問是否
要另外存為新的模組化資料庫。
6) 選擇[是]以後，會跳出以下視窗，可用下拉視窗決定要存到哪一個類型。
圖 422：模組化元件庫儲存視窗
5.3.12 結果(僅顯示在生產模式)
圖 423：生產模式 – 結果視窗
設定
– 顯示維修站：開啟維修站主程式，可在主機直接做確認動作。(此功能通常在 DT 機台使用)
– 顯示維修資訊：改以維修站覆判後的結果來顯示統計資訊。欲使用此功能，請在維修站開
啟維修模式，如下圖所示。
圖 424：啟用顯示維修資訊時維修站需要開啟的設定
不良標記：選擇顯示不良元件位置的標記方式。
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5.4 框屬性
框屬性視窗的用途在於幫助使用者快速地變更所選擇的檢測框屬性及相關參數，其介面如下圖所
示。
圖 425：框屬性面板