KE-2070_2080_InstructionManual_C_Rev01.pdf - 第478页
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序 4-175 4-5-4-2-3 测量操作 1) 单独测量 只对选择的元件进行测量。 ① 设置单独测量的条件 从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独”后，显示如下画面。 图 4.5.4.2.3-1 设置单独测量条件 (1) 被检元件 显示被检元件的内容。 (2) 吸取位置 显示吸取元件的吸取位置的内容。可改变前代 替元件及下一替代元件的吸取位置。当没 有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位…
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3) 关于进行测量时的各项动作
① 用于吸取的贴片头
可自动选择用于吸取的贴片头。使用贴片头时,优先使用安装完的吸嘴，以减少吸嘴的更
换次数。根据吸嘴的安装情况，每次测量时，吸取的贴片头可能不同。
② 测量后放回元件
测量后的元件将被放回原来的位置或被废弃。如下表所示，具体因包装方式而异。废弃
时，根据元件数据中“元件废弃”的设置，将元件废弃到指定的地点。此外，当废弃方
法设定为“IC回收带”、“元件保护”时，则按照设置进行废弃。
对于1mm以下的元件，在放回时可能会出现元件直立或元件倒置，请根据询问选择动作。
表 4.5.4.2.2.1-7 元件放回/废弃条件
包装方式 条件 1 条件 2 放回 废弃
32mm 送料器 － ○
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
带状
以外
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
外形尺寸短边 1mm 以下 确认*1
散装
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○*2
托架 ○ ○*2
MTC ○ ○*2
MTS ○ ○*2
管状 － ○
*1 显示信息，选择是将元件放回还是废弃。连续测量时，在开始前询问。
*2 当废弃方法为“IC 回收传送带”“元件保护”时，进行废弃。
③ 选择用于吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据)，初始值时，从最初输入的数据中吸取元件。
仅单独测量可根据需要改变供给装置。
④ 改变吸取坐标
无法顺利吸取时，可用手动输入或使用HOD设备进行坐标示教，改变吸取坐标。
⑤ 手动吸取
当没有吸取数据时，可用手动将元件安装到吸嘴上。此时，不能输入吸取坐标。也不能
操作送料器。
此外，采用手动吸取时，因元件尺寸的短边超过33.5mm的元件不能废弃，测量后必须把
元件移动到元件保护位置上。
⑥ IC贴片头可使用条件
右贴片头的设置中元件短边 3mm 以下、或吸嘴号设置为 500 号～503 号、 509 号的，无
法执行测量。对短边 3mm 以下的高分辨率摄像机识别的元件，可用 LNC60 贴片头识别图
像。
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4-5-4-2-3 测量操作
1) 单独测量
只对选择的元件进行测量。
① 设置单独测量的条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“单独”后，显示如下画面。
图 4.5.4.2.3-1 设置单独测量条件
(1) 被检元件
显示被检元件的内容。
(2) 吸取位置
显示吸取元件的吸取位置的内容。可改变前代替元件及下一替代元件的吸取位置。当没
有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、顶推送料器和示教。
● 送料器
顶推一下送料器，供给元件(32mm的纸带除外)。
● 将示教结果反映到吸取数据中
选择是否将使用HOD进行示教的结果反映到吸取数据中。不选择时，坐标仅适用于此次吸
取时。
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● 变更吸取坐标的方法
当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用HOD示教贴片坐标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键进行确定。
图 4.5.4.2.3-2(b) 正在示教
(3) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项目
有所不同。
（KE-2080在图像识别元件的情况下，可以测量CDS高度）
设定结束后，单击“检测”，进行单独测量。
图 4.5.4.2.3-2(a)