KE-2070_2080_InstructionManual_C_Rev01.pdf - 第493页
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序 4-190 4-5-4-3-5 共面性检查 进行共面性检查及获取参数。 图 4.5.4.3.5-1 共面性单独检查流程图 1) 共面性检查的检查方式 利用元件数据中设定的值，进行“图像识别”→“共面性检查”的一系列控制，检查有无错误。 执行检查 (对话框) 执行检查 图像识别 结 果显示 (对话框) 共 面 性 检查开始 共面性检查 共 面 性检查 结束 结束
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序
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例：执行全种类照明测量
大区分 反射 同轴照明 保持 红色侧面照明 1 测量
小区分 标准 下方照明 测量 红色侧面照明 2 关灯
组合模式有以下几种组合。
I II III IV V
同轴照射照明 保持 保持 保持 保持 保持
下方照明 测量 测量 测量 关灯 保持
红色侧面照明 1 测量 关灯 保持 测量 测量
红色侧面照明 2
关灯 关灯 关灯 关灯 关灯
④ 确定： 将设定的内容反映到照明测量。
⑤ 取消：不反映详细设定的变更内容,关闭对话框。
(恢复到上一次的设定内容。)
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序
4-190
4-5-4-3-5 共面性检查
进行共面性检查及获取参数。
图 4.5.4.3.5-1 共面性单独检查流程图
1) 共面性检查的检查方式
利用元件数据中设定的值，进行“图像识别”→“共面性检查”的一系列控制，检查有无错误。
执行检查
(对话框)
执行检查
图像识别
结
果显示
(对话框)
共
面
性
检查开始
共面性检查
共
面
性检查
结束
结束
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序
4-191
2) 关于共面性检查时的各项操作
① 检查后放回元件
测量后的元件,有放回原位置和废弃两种处理。如下表所示，具体因包装方式而异。
废弃地点，根据元件数据中的“元件废弃”设置。1mm以下的元件，在放回时有可能出现
元件直立或倒置，请根据询问选择动作。
表 4.5.4.3.5-1 放回元件/废弃条件
包装方式 条件 1 条件 2 放回 废弃
32mm 送料器 － ○
外形尺寸短边 1mm 以下 确认 *1
带状
以外
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ －
外形尺寸短边 1mm 以下 确认 *1
散装
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ －
托架 ○ －
MTC ○ －
MTS ○ －
管状 － ○
*1 显示询问信息时，请选择是放回元件还是废弃。连续测量时，在开始前会显示询问。
② 选择吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据)，从初始值最初输入数据吸取元件。仅可根据
需要改变供给装置。
③ 改变吸取坐标
无法顺利吸取时，可手动输入或使用HOD设备进行坐标示教，改变吸取坐标。
④ 手动吸取
当没有吸取数据时，可手动将元件安装到吸嘴上。此时，不能输入吸取坐标。也不能操
作送料器。
此外，采用手动吸取时，因元件尺寸的短边超过33.5mm的元件不能废弃，测量后必须把
元件移动到元件保护位置上。
⑤ IC贴片头可使用条件
右贴片头的设置中元件短边 3mm 以下、或吸嘴号设置为 500 号～503 号、 509 号的，无
法执行测量。对短边 3mm 以下的高分辨率摄像机识别的元件，可用 LNC60 贴片头识别图
像。