KE-2070_2080_InstructionManual_C_Rev01.pdf - 第483页
第1部 基本篇 第4章 制作生产程序 4-180 3) 连续测量 测量所有指定的元件。 ① 设置连续测量条件 从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“连续检测”，显示如下画面。 图 4.5.4.2.3-9 设置连续测量条件 (1) 测量对象元件 设置对元件数据中有某一条件一致的元件进行测量。 ● 全元件 测量所有的元件数据。 ● 薄元件 仅测量元件高度在设定尺寸以下的元件。 ● 指定元件类型 仅测量指定的元件类别。 ● 指定吸嘴号 仅测…
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③ 单独测量结果
单独测量结束后，显示如下的结果画面。
图 4.5.4.2.3-8 单独测量结果
(1) 检测完元件
显示元件内容及吸取位置。
(2) 检测结果
显示测量结果的值。( )内显示原来的元件数据值。
未进行测量的项目显示***。
(3) 确定(F8键)
使测量结果生效，将结果值储存到元件数据中。然后返回原来的单独测量条件的设置画
面。
(4) 取消(ESC键)
使测量结果无效，然后返回原来的单独测量条件的设置画面。
(5) 再测量(F10键)
再次以相同的条件进行测量。
(6) 变幻线
从激光单元取得测量(SWEEP)数据，以图表（变幻线）显示元件的轮廓。
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3) 连续测量
测量所有指定的元件。
① 设置连续测量条件
从菜单栏中选择“机器操作”/“测量”/“连续检测”，显示如下画面。
图 4.5.4.2.3-9 设置连续测量条件
(1) 测量对象元件
设置对元件数据中有某一条件一致的元件进行测量。
● 全元件
测量所有的元件数据。
● 薄元件
仅测量元件高度在设定尺寸以下的元件。
● 指定元件类型
仅测量指定的元件类别。
● 指定吸嘴号
仅测量指定要使用的吸嘴元件。
● 激光定中心元件
仅测量进行激光定中心的元件。
● 外观定中心元件
仅测量进行外观定中心的元件。
(2) 测量范围
把被检元件的条件，设置为特定编号的元件。
● 开始元件号：选中开始的被检元件数据编号。
● 结束元件号：选中结束测量的被检元件数据编号。
● 只限贴片元件：只选中贴片数据指定的元件数据。
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(3) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项目
有所不同。
（在KE-2080上进行图像识别时可以测量CDS高度）
(4) 连续测量按钮(<START>开关)
开始连续测量。
(5) 返回按钮(ESC键)
返回原来的画面。
(6) 询问
开始连续测量后，显示询问，问测量后如何处理尺寸在1mm以下的元件。
图 4.5.4.2.3-10 询问元件放回画面
● 每次废弃
元件每次废弃在指定处。
● 每次返回
元件放回原来的位置。
● 每次询问
每次测量结束后，询问是否放回1mm以下的元件。