GJB Z 299C-2006 电子设备可靠性预计手册.pdf - 第110页
GJ B / Z 29 9 C- 2 0 0 6 208 表7 -1 ( 续 ) 元器件或部件 名称 失效 模式 比 例 微波电 子管 自然老化 9.0% 收集极 7.0% 击 穿 真空度 下降 4.0% 自激振荡 4.0% 螺旋线 电流大 4.0% 其他 (栅 发射 、频 响差 等) 14 % 电阻器 合成电 阻器 参数漂 移 66.0% 开路 31.0% 短路 3.0% 金属膜 电阻器 参数漂 移 8.10% 开路 91.9% 碳膜…
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GJB/Z 299C-2006
表7-1(续)
元器件或部件名称
失效模式
比例
晶体管
双极型晶体管
短路
36.0%
开路
44.0%
增益等性能的退化
20.0%
场效应晶体管
短路
35.0%
参数漂移
25.0%
开路
40.0%
GaAs场效应晶体管
短路
61.0%
开路
26.0%
参数漂移
13.0%
半导体闸流晶体管
断不开
45.0%
短路
40.0%
开路
10.0%
闭合失效
5.0%
光电子器件
发光二极管
开路
70.0%
短路
30.0%
光电耦合器
引线故障
3.9%
污染
2.0%
退化
54.8%
过电应力
5.9%
不能切换
27.5%
开路
5.9%
光电传感器
短路
50.0%
开路
50.0%
真空电子器件
普通电子管
破裂
5.1%
烧毁
5.1%
失控
25.6%
超出额定值
12.8%
性能退化
15.4%
电源故障
36%
微波电子管
阴极
31%
发射降低
灯丝断
16%
放电打火
11%
GJB/Z 299C-2006
208
表7-1(续)
元器件或部件名称
失效模式
比例
微波电子管
自然老化
9.0%
收集极
7.0%
击穿
真空度下降
4.0%
自激振荡
4.0%
螺旋线电流大
4.0%
其他(栅发射、频响差等)
14%
电阻器
合成电阻器
参数漂移
66.0%
开路
31.0%
短路
3.0%
金属膜电阻器
参数漂移
8.10%
开路
91.9%
碳膜电阻器
开路
83.4%
参数漂移
16.6%
线绕电阻器
开路
97.0%
参数漂移
3.0%
功率线绕电阻器
开路
97.1%
参数漂移
2.9%
电阻网络
开路
92.0%
短路
8.0%
电位器(综合)
开路
53.0%
输出不稳定
40.0%
短路
7.0%
普通线绕电位器
开路
48.6%
短路
12.1%
接触不良
39.3%
微调线绕电位器
开路
10%
短路
10%
接触不良
80%
有机实芯电位器
开路
60.6%
短路
5.60%
接触不良
33.8%
合成碳膜电位器
开路
34.2%
短路
8.70%
参数漂移
17.1%
接触不良
40.0%
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GJB/Z 299C-2006
表7-1(续)
元器件或部件名称
失效模式
比例
电容器
纸和薄膜电容器
短路
74.0%
开路
13.0%
参数漂移
13.0%
玻璃釉电容器
开路
25%
短路
53%
参数漂移
22%
云母电容器
短路
83.0%
参数漂移
7.0%
开路
10.0%
1类瓷介电容器
短路
73.0%
参数漂移
11.0%
开路
16.0%
2类瓷介电容器
短路
73.0%
参数漂移
11.0%
开路
16.0%
3类瓷介电容器
短路
56.0%
参数漂移
22.0%
开路
22.0%
固体钽电解电容器
短路
75.0%
参数漂移
25.0%
液体钽电解电容器
短路
69.0%
开路
17.0%
参数漂移
14.0%
铝电解电容器
短路
53.0%
开路
35.0%
电解液泄露
10.0%
容量减少
2.0%
可变电容器
参数漂移
60.0%
短路
30.0%
开路
10.0%
线圈
线圈
短路
18.3%
开路
39.4%
参数漂移
25.4%
其他
16.9%