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6 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4 6.7 Leitfaden zum Beschreiben vo n Gehäuseformen Softwareversion SR.406.xx Ausgabe 02/2000 D E 336 6 Abb. 6.7 - 4 Flussdiagramm ’Programm ieren und T esten einer Geh…
Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4 6 Visionfunktionen
Softwareversion SR.406.xx Ausgabe 02/2000 DE 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
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6
Abb. 6.7 - 3 Flussdiagramm ’Programmieren und Testen einer Gehäuseform (GF),
Teil 1 - Linienrechner
Beachten Sie bitte, daß bei
den Standard-GF’s durch
BE-TESTEN eine Änderung
der BE-Erkennung vorge-
nommen werden kann.
(nötigenfalls GF-file
[_.SST file] umkopieren)
GF Datei mit Nr. >1499
programmieren
Gehäusetyp wählen
Unregelmäßige
FDC
Regelmäßige
F
ully defined Comp.
P
artially defined
C
omponent
Ball Grid Array
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
Anwenderkommentar
eintragen
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
GF-Nennmaße und
Toleranzwerte
KörperdimensionenKörperdimensionen Körperdimensionen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
Bearbeitungsdaten
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks / Bearbei-
tungsparameter / Redu-
zier. Beschleunigungen
SICHERN
Fortsetzung der Programmierung an der Station
Beinchengruppen-,
Beinchenmodell-
daten programm.
Beinchengruppen-,
Beinchenmodell-
daten programm.
Ballraster-,
Ballmodelldaten
programm.
Neues Bauelement
GF-Datei
vorhanden?
Nein
Ja
Dateizusatzinformationen programmieren
6
Neues Bauelement
6
GF-Datei
vorhanden?
6
GF-Datei mit Nr. >1499
programmieren
6
6
Gehäusetyp wählen
6
Partially defined
6
Anwenderkommentar
6
GF-Nennmaße und
6
Bearbeitungsdaten
6
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
6
Regelmäßige
6
Unregelmäßige
6
Ball Grid Array
6
Körperdimensionen
6
Beinchengruppen,
Beinchenmodell-
6
SICHERN
6
Dateizusatzinformationen programmieren
6
Fortsetzung der Programmierung an der Station
6
Beachten Sie bitte, dass
bei den Standard-GFs
durch BE-TESTEN eine
Änderung der BE-Erken-
nung vorgenommen
werden kann.
(Wenn nötig, GF-Datei
[_.SST] umkopieren)
6
Bearbeitungsdaten
6
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
6
Bearbeitungsdaten
6
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
6
Bearbeitungsdaten
6
Pipettentyp (Kamera)
Sensorsystemtyp
Vakuumchecks/Bearbei-
tungsparameter/Redu-
zierte Beschleunigungen
6
Anwenderkommentar
6
Anwenderkommentar
6
Anwenderkommentar
6
GF-Nennmaße und
6
GF-Nennmaße und
6
GF-Nennmaße und
6
Körperdimensionen
6
Körperdimensionen
6
Beinchengruppen,
Beinchenmodell-
6
Beinchengruppen,
Beinchenmodell-
6
Ja
6 Visionfunktionen Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4
6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen Softwareversion SR.406.xx Ausgabe 02/2000 DE
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6
Abb. 6.7 - 4 Flussdiagramm ’Programmieren und Testen einer Gehäuseform (GF),
Teil 2 - Stationsrechner
Programm und Rüstung mit dieser Gehäuseform an Station schicken und rüsten
Im „Visionsystem“ „BE testen“ GF nach Bedarf verändern
Revolverkopf
GF (BE) abholen
Pick & Place - Bestückkopf
GF (BE) abholen
BE darstellen BE messen
GF (BE) prüfen, Return für
für nächsten Meßschritt
BE darstellen
GF (BE) prüfen, Return für
nächsten Meßschritt
GF (BE) messen
Meßvorgang mehrmals wiederholen
(BE auf Pipette verschieben
simuliert Abholen verschiedener
BE) und Resultate prüfen
Immer gleich ?
Mehrmals bestücken !
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muß die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
5. Bauteildimension verändern
4. Meßmodi und Meßparameter
verändern
3. Beleuchtung verändern
2. Bauelement darstellen
1. Handling-Fehler: Abholwinkel,
Pipettentyp, BE an Pipette, etc.
Nein
Nein
Ja
Tritt Fehler-
meldung auf?
Ja
1. Handlingfehler: Abholwinkel
Pipettentyp, BE an Pipette etc?
6
2. BE darstellen
6
3. Beleuchtung verändern
4. Messmodi und
Messparameter verändern
6
5. BE-Dimension verändern
6
6. Pin/Ball-Kontrast verändern
7. Pin/Ball-Dimensionen
verändern
8. Kontrast programmieren
(Tafel programmieren)
6
BE mehrmals bestücken !
Wichtiger Hinweis:
Das Manipulieren von
Bauelementen an der Station
muss die Ausnahme bleiben.
In der Regel müssen nur
wenige Bauelemente
verändert werden.
6
Ja
6
Nein
6
Immer gleich?
6
Nein
6
Tritt Fehler-
Messvorgang mehrmals wieder-
holen (BE auf Pipette verschieben
simuliert Abholen verschiedener
BE) und Resultate prüfen
6
GF (BE) messen
6
GF (BE) prüfen, Return für
6
BE darstellen
6
Revolverkopf
6
GF (BE) prüfen, Return für
6
BE darstellen
6
BE messen
6
Pick & Place- Bestückkopf
6
Im Visionmodul "BE testen" GF nach Bedarf verändern
6
Programm und Rüstung mit dieser Gehäuseform an Station schicken und rüsten
6
Ja
Betriebsanleitung SIPLACE 80S-20/F4 6 Visionfunktionen
Softwareversion SR.406.xx Ausgabe 02/2000 DE 6.7 Leitfaden zum Beschreiben von Gehäuseformen
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6.7.3 Bauformen und mögliche Messmethoden zur Grob- und Feinzentrierung
6
Sind einer oder mehrere der Resultatwerte ausserhalb der Toleranz,
so wird das Bauelement nicht bestückt. 6
Bauform
SIZE
ROW
CORNER
Lead:
Kombinierte Aus-
wertefenster
Lead: Separate
Auswertefenster
Grid
Ball
Resultat des letzten
Messschritts
PDC ohne Beinchen G/F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
PDC rund abbildend G/F F Winkeltoleranz
Kleine FDCs, z.B.
2 Beinchen
G/F F
∆X, ∆Y, (∆φ), BE-Länge
Breite, (Qualität)
FDC regelmäßig mit
kurzen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: ∆X, ∆Y, ∆φ,
(Qualität)
FDC regelmäßig mit
langen PIN-Reihen
GF
4seitig
F
Nicht
4seitig
F
Max. Abweichung von
der Teilung: ∆X, ∆Y,
(∆φ),
Qualität
FDC unregelmäßig
mit kurzen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
∆X, ∆Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit langen PIN-Rei-
hen
G(G)F F
∆X, ∆Y, Anzahl PINs
(Qualität) max. Abwei-
chung der Teilung
FDC unregelmäßig
mit einer PIN-Reihe,
mehreren PIN-Model-
len oder Teilung
GG F
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
FDCs mit kreisseg-
mentförmigen PIN-
Anordnungen
(G) G F
∆X, ∆Y, (∆φ), normierte
Beinchenabweichung
(Qualität) Anzahl PINs
Sekundäroffset
BGA, Flip-Chip G G F
∆X, ∆Y, (∆φ), Teilung,
Winkel, Qualität)
Tab. 6.7.1