saki算法详解.pdf - 第10页
应用实 例:(可以用来测试错料,反白偏移等) 应用Chip料中可测出错料.烂料 OK NG 应用IC类元件中可测出IC腳的移位 OK NG MAX/MIN 10 适当的设置此 参数,可有效 的降低由于脏 物帶來对 Sample的干 扰

MAX/MIN
算法原理
: "Max" 值就是窗口内最大的亮度值.
Min" 值就是窗口内最小的亮度值.
设定 "Averaging X" 和 "Averaging Y" 是用来消除一些干扰因素如灰尘等对检测结果的影响.
参数设置:
通常"Averaging X" 和 "Averaging Y"设为2或3
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当Algorithm为Max,AveragingX=2 and AveragingY=2时,Sample值的详细计算过程。
检测窗口內各像素的灰度值分布图
检测窗口
由于受到某些污点的影响而使像素值受到干
扰,从而变得异常.在未经过平均处理时,
Sample值的結果如下:
Sample”=Maximum255=255
將X轴.Y軸上兩兩相邻的像值进行平均处理
之后,Sample值的计算结果如下:
“Sample”=Maximum134-Minimum83=51

应用实例:(可以用来测试错料,反白偏移等)
应用Chip料中可测出错料.烂料
OK NG
应用IC类元件中可测出IC腳的移位
OK
NG
MAX/MIN
10
适当的设置此
参数,可有效
的降低由于脏
物帶來对
Sample的干
扰

Peak
算法原理:获取窗口内存在最普遍的亮度值。
参数设置:增加"Step" 的值可以减少图像噪声的干扰,将"Step"值设得超过10,就能将图
像噪声的干扰减到最小
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准备窗口内的亮度直方图Prepare the histogram of the brightness inside the window.
用“Step”定义直方图中的亮度跨度. 获取在直方图中高度最高的亮度值.如下图: