saki算法详解.pdf - 第6页
算法 算法原 理: 此算法可计算出检测窗口内的平均亮度值. 应用实 例： 可以应用于测试电阻/电容错料，电阻/电容 参数设置界 参数设 置: A verage 6 错料实 例： 检测窗口 OK 检测窗口 NG 应用实 例： 可以应用于测试电阻/电容错料，电阻/电容 虚焊等 参数设置界 面：如选择 sidelight 灯光， 配合Average 算法可以测 试电容虚焊 问题。OK Range设置 参考范围： 130-0.
应用实例：（可以用来测试炉前或炉后的少锡，假焊，无锡等缺陷）
如图：RN排阻虚焊。
使用此算法
检测锡点时
一般使用
toplight的照
明方式
设置少锡窗口时参考设置
：
Black/White
5
OK
NG
使用0-100的
设置表示寻
找较暗的亮
度值.
建议值：
0-60
Ok Range 的Lower设置一般不能低于
65，建议值：100-65
算法算法原理: 此算法可计算出检测窗口内的平均亮度值.
应用实例：可以应用于测试电阻/电容错料，电阻/电容
参数设置界
参数设置:
Average
6
错料实例：
检测窗口
OK
检测窗口
NG
应用实例：可以应用于测试电阻/电容错料，电阻/电容
虚焊等
参数设置界
面：如选择
sidelight
灯光，
配合Average
算法可以测
试电容虚焊
问题。OK
Range设置
参考范围：
130-0.
Range
算法原理：获得在窗口内最高亮度与最低亮度之间的差值，.参数 "Averaging X" 和
"Averaging Y" 是用来消除一些干扰因素,比如灰尘对检测结果的影响.
参数设置：
参数 内容 值域 单位
Averaging X X 方向的平均宽度 0 -
窗口宽度
[Pixels]
Averaging Y Y 方向的平均宽度 0 -
窗口宽度
[Pixels]
Option (Not used) N/A N/A
Shift 偏移当前检测窗口位置 V1 - V8 [Memory]
Sample 窗口内最高亮度与最低亮度之间的差值 0 - 255 [Gradation]
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Sample 窗口内最高亮度与最低亮度之间的差值 0 - 255 [Gradation]
OK Range 检测合格的上下限 0 - 100 [Gradation]
通常, 2-3 个像素被设为 "Averaging X" and "Averaging Y".
检测窗口內各像素的灰度值分布图
检测窗口：
由于受到某些污点的影响而使像素值受到
干扰,从而变得异常，在未经过平均处理时
Sample值的结果如下:
“Sample”=Maximum255-
Minimum75=180
将X,Y设为2.X轴.Y轴上两两相邻的像值进
行平均平均处理后,Sample值的计算结果如
下:“Sample”=Maximum134-
Minimum83=51
当检测
窗口在
此位置
时.
Sample
值很小
当检测窗
口在这个
位置时。
Sample值
將变得很
大
此窗口
用于IC
偏移检
测