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应用实 例: 在应用于Chip料的检测中可以测出 錯料﹑漏料﹑烂 料等不良 Step 设定 一个 当元件表面的亮度比较恒定在某一亮度而且跟 周围的亮度区 別 很大时,这个方法就非常有效. Peak 12 NG OK 一个 合理 的值 可有 效的 降低 图像 噪点 干扰 Ok 范围 的设 置可 根据 所检 测的 物料 來決 定
Peak
算法原理：获取窗口内存在最普遍的亮度值。
参数设置：增加"Step" 的值可以减少图像噪声的干扰,将"Step"值设得超过10,就能将图
像噪声的干扰减到最小
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准备窗口内的亮度直方图Prepare the histogram of the brightness inside the window.
用“Step”定义直方图中的亮度跨度. 获取在直方图中高度最高的亮度值.如下图：
应用实例:
在应用于Chip料的检测中可以测出錯料﹑漏料﹑烂
料等不良
Step
设定
一个
当元件表面的亮度比较恒定在某一亮度而且跟周围的亮度区別
很大时,这个方法就非常有效.
Peak
12
NG
OK
一个
合理
的值
可有
效的
降低
图像
噪点
干扰
Ok
范围
的设
置可
根据
所检
测的
物料
來決
定
Color XY
算法算法原理 :
此算法使用顏色来检测元件的缺件.样本边界线是根据两端的坐标(Color
data A,Color data B)来设定的.要将检测窗口的大小设成能包含一个颜色区分非常明显的
区域.请注意此算法将黑色和白色视为一种颜色。取样值是红叉到蓝线之间的距离。取值
的正负会根据坡度发生变化。
Green Area
(綠色區域)
Yellow Area
(黃色區域)
Black/White Area
(黑白區域)
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Blue Area
(藍色區域)
red Area
(紅色區域)