saki算法详解.pdf - 第24页
应用实 例 ： 设置检测 窗口的搜 寻范围 此算法 在I C中的应 用可测出反向、错料 、漏料等不 良 ImageMatchEx 24 设置此 参数可 以改变 Sample 值的计 算方式 OK NG NG OK Range的Lower不宜低 于70 增加或删除当前图片
A.模式对比处理过程
在检测时將被检图像与已知主图像叠合,
在已設置的搜寻范围內移动主图像
B.规范化处理过程
ImageMatchEx
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移动主图像直到主图像与被检图像之間的灰度差最小
灰度差很小
兩幅图像很相似(“Sample”值很大)
灰度差很大
兩幅图像不相似(“Sample”值很小)
上图表明了规范化处理过程对模式
对比的影响,有時同样的元件因为PCB亮
度的不同而亮度不同,这时就需要先进行
规范化处理过程.
规范化处理过程后,元件的亮度范围
就被扩充到0-255的全亮度范围.
应用实例：
设置检测
窗口的搜
寻范围
此算法在IC中的应用可测出反向、错料、漏料等不
良
ImageMatchEx
24
设置此
参数可
以改变
Sample
值的计
算方式
OK
NGNG
OK Range的Lower不宜低
于70
增加或删除当前图片
New OCR
旋转角度设定
25
设定字符的亮度范围
设定参考字符
消除图像干扰设定
应用设定
设定相似字符