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Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software ix
附錄二
OCR
操作說明
______________________________________________ 649
1 建立 OCR 檢測框之流程 ............................................................................ 649
2 在 Train 與 OCR 功能相關之按鈕 .............................................................. 650
3 使用自動教導方式新增 OCR 框 ................................................................. 651
4 選單說明 .................................................................................................... 656
4.1 OCR - Auto Train Dialog ............................................................ 656
4.2 Training Result Verify 界面功能說明 .......................................... 658
4.3 OCR - Manual Train Dialog ....................................................... 659
4.4 Training 教導功能 ....................................................................... 661
4.5 Run Time Test即時測試 ............................................................ 662
4.6 Tools 工具切換 ........................................................................... 663
4.7 Show Font Library Dialog .......................................................... 668
4.8 Font Delete Dialog ..................................................................... 669
5 OCR Date-Code In-Line /Run-Time Inspect注意事項 ............................... 670
5.1 製作 OCR 檢測框 ....................................................................... 670
5.2 TRI-OCR 限制............................................................................ 672
附錄三
軟體條碼
RUNTIMESCAN
模式注意事項
___________________________ 673
RELEASE NOTICE __________________________________________________ 685
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 1
1
手冊簡介
1.1
本手冊適用機型介紹
德律科技所生產之高速自光學檢測系統 AOI 系列，其動態檢測科技提供了穩定且清楚
的影像，可有效檢測組裝電路板製程中所產生的缺點。對於各機種的詳細規格，我們
亦備有相關型錄可供使用者參考。
本手冊(TR7700 SII DL 系列使用手冊：軟體)主要內容包含了 TR7700 SII DL 系列軟
體使用的詳細說明，為了使用上的方便，本手冊所刊載的內容，一律使用 AOI 來代表
檢測設備而不詳列所適用機種。若所提及的功能並非所有機種皆適用時，才會另外標
註(例：僅 TR7700 SII DL 適用)。
1.2
AOI 功能介紹
TRI 之自動光學檢測 (AOI, Automated Optical Inspection) 機系列，針對輕薄短小、密
度高之電子產品的檢測需求而開發，利用光學影像的檢測，在不需測試治具、不需電
子量測且不破壞產品的情況下，可有效檢出元件的各種不良製程。AOI 除了可避免傳
統人工目檢的不穩定因素，亦可加速檢測時間，有效為產品的品質把關，提高產能及
減少生產、維修成本。
TRI 的 AOI 檢測設備，使用了動態取像 技術，提供高速且清晰之電路板實際影像，且
不需更動軟硬體即適用於回焊爐前或爐後的檢測。
TR7700 SII DL 機種採用大尺寸 3CCD 攝影機，有效提高檢測速度，與其相同解析度
下的同級產品，可提供全球最快的檢測速度。此外，其使用線性馬達搭配光學尺，建
構高精度的 X-Y 機械平台系統。線性馬達優異的重現性，除了無傳統螺桿的背隙及磨
耗問題，且其低噪音、免保養及使用壽命長的特性，與動態影像系統互相搭配可以得
到更穩定的檢測結果。另外，TR7700 SII DL 使用改良式的 LED 光源系統，提供更佳
的元件照明效果，對於檢測準確度上有大幅的提升。