TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第683页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 669 4.8 Font Delet e Dialog 在 Font Libr ary Manag er 字型庫管理界面下，當點選「組合式刪除」 功能 項時，可呼叫出如下圖的窗口，此窗口主要是以組合式條件來刪除字型之機制，內 容包含之功能如下所示：
Test Research Inc.
668 TR7700 SII DL User Guide–Software
1. 在字串(Code)編輯框內，編輯 Date-Code 字串。
2. 按下「置換按鈕 」做更改。
3. 可按下「List」鍵顯示所有已建立之 Date-Code 列表，並可直接點選指定的
ID Name 來設定是否使用文法比對。
修改字型種類及角度
可直接在「字型」(Font Type)編輯框中指定某一字型種類、角度之修改，以作為
辨識字串時，字型選取之依據。
4.7
Show Font Library Dialog
當點選「字型種類管理」 功能項時，可呼叫出如下圖的窗口，此窗口主要是以
字型種類(Font-Type)為基礎之字型管理機制，內容包含之功能如下所示：
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 669
4.8
Font Delete Dialog
在 Font Library Manager 字型庫管理界面下，當點選「組合式刪除」 功能
項時，可呼叫出如下圖的窗口，此窗口主要是以組合式條件來刪除字型之機制，內
容包含之功能如下所示：
Test Research Inc.
670 TR7700 SII DL User Guide–Software
5
OCR Date-Code In-Line /Run-Time Inspect 注意事項
5.1
製作 OCR 檢測框
1. 由於考慮打件偏位之影響，強烈建議使用 OCR 檢測框時，需搭配「Warp」
框。鎖 Warp 的圖像以 Chip 上面，跟著文字面一起移動的商標為主，如下圖
所示。