TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第446页

Test Research Inc. 432 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software  Defect Size (um) ：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值 (um) 。需搭配 DefectNum ner 使用。  DefectNum ber ：設定在設定 Defect S ize 內 的缺陷數量容許值。需搭配 Defect Size(u m) 使用。  Short - Si…

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Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 431
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Threshold low/ high
：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提
升檢測效果。
low<level<=high, level>high, level<=low
：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍內、
大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。
Defect Pixel Count
：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素(pixel)標示出來，
並將其中相鄰的畫素視為同一群組。使用者可以設定當群組畫素數量高過或者低
於多少才判定為缺陷。若填入數值為 10<=Defect Pixel Count<2500 表示，若檢
測出的的群組畫素數量介於 10~2500 時，才會判定為缺陷。
Principal axis aspect ratio>
：若抓出群組的長寬比大於或小於所輸入的值的話才
視為缺點。若輸入 0 表示此項目不檢測。
change to <
：勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小於，
即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。
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432 TR7700 SII DL User Guide–Software
Defect Size(um)
：設定判定為 Fail 的 Defect 長邊數值(um)。需搭配
DefectNumner 使用。
DefectNumber
：設定在設定 Defect Size 內的缺陷數量容許值。需搭配 Defect
Size(um) 使用。
Short-Side Size
：將 Defect Size 群組計算由長邊改為短邊長度計算。
4.10.2.11 Edge Window 框
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
門檻值
：相臨 pixel 之灰階差異門檻值。
Pixel Count
：設定畫素門檻值。當檢測框範圍內合乎條件的畫素總數大於這個值，
則顯示 Fail。
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TR7700 SII DL User Guide–Software 433
4.10.2.12 Color Window 框
檢測所選取的範圍內是否達到所設定的 RGB 灰階分布比例。可用來檢測灰階差異不
明顯但某一 RBG 顏色差異大的位置，例如銅箔，元件的空焊及缺件。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：