TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第701页
Test Research Inc. TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software 687 11 Output 品安輸出版子檢測結果 並加入 Lot 號碼 12 Algorit hm 新增 ChipWi ndow 功能 13 Algorit hm Chip Wind ow 功能更新 : 新 增代料功能 與 Square 方法 14 Algorit hm Pad measure: 新 增單一 Pad 量測…
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 685
RELEASE NOTICE
ISSUES RESOLVED
#
COMMANDFUNCTION
DESCRIPTION
HARDWARE
(OPTIONAL)
1
Library
修正library solder框的dark/bright
bridge預設值會是dark的問題
2
Image
修正bayer camera轉成color的image
顏色不對
3
Save Fov Image
修正檢測中存fov的功能在有開軟體條
碼時，
無法使用
4
New Component
修正新加元件所產生出來的座標是錯
的
IMPROVEMENTS
#
COMMANDFUNCTION
DESCRIPTION
HARDWARE
(OPTIONAL)
1
Weighting
改善權重可以依所有類型設定
2
Save Defect Image
改善在7500SII三點照合產生圖檔的時
間(Registry SaveDefectImage_Fast =
1)
3
Save Fov
改善SaveJPGFov功能所需的時間
Test Research Inc.
686 TR7700 SII DL User Guide–Software
4
Offline Library
設定LoadOneFov 可在ATPG不拼圖
只load單張Fov
5
Offline
Offline finetune自動載入資料並新增
提示窗
6
Software barcode
改善軟體條碼的讀取率
7
OCV
OCV檢測能力加強
NEW FEATURES
#
COMMANDFUNCTION
DESCRIPTION
HARDWARE
(OPTIONAL)
1
Train Dialog
新增在UIMode = 2時在fov按右鍵可
設定多件檢測選項
2
OCR
新增OCR功能改由License Check
3
Library
新增在主菜單中的參數設定下的路徑
可設定元件庫路徑
4
SFC
新增淳華SFC功能
5
Inspection Box
新增隱藏UnTest檢測框功能
6
Extrablob
新增Extrablob根據遮罩值對所有相同
type做遮罩
7
SFC
新增名碩SFC功能
8
SFC
新增江揚SFC功能
9
Alternative
新增標準代料影像比對功能
10
Algorithm
新增New Lead演算法
Test Research Inc.
TR7700 SII DL User Guide–Software 687
11
Output
品安輸出版子檢測結果並加入Lot號碼
12
Algorithm
新增ChipWindow功能
13
Algorithm
Chip Window功能更新: 新增代料功能
與Square方法
14
Algorithm
Pad measure: 新增單一Pad量測功
能
15
Color Space
Color Space 功能更新