TR7700_SII_DL_Software_ch-v4.8_20130515.pdf - 第526页
Test Research Inc. 512 TR 7700 S II DL Us er Gui de – Software Step4. 設定完成,在影像區域產生 [Warp] 且在元件表上產生 [W ARPMODEL] 元件。 Step5. 使用者可點選後在下方設定其比對條件分數。

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當此 FOV 已經設定[Warp]後,[設板彎]按鈕上的文字會變成[刪除板彎]。按下[刪除板
彎]可以將以設定的[Warp]框刪除。
設定步驟
Step1. 將萬用框移到欲設定板彎框的位置上。
Step2. 勾選按鈕前方的空格 ,接著按下本按鈕。
Step3. 選擇套用的方式。[依拷貝單位]選項點選表示將此設定套用到其他片多連板的
相對位置上。若在後方方塊打勾的話,表示在其他片電路板 FOV 內的檢測框
會根據原本 FOV 與其他 FOV 中[Warp]框的偏移作相對距離的移動。

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Step4. 設定完成,在影像區域產生[Warp]且在元件表上產生[WARPMODEL]元件。
Step5. 使用者可點選後在下方設定其比對條件分數。

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7. 光源設定
請參閱 4.8 光源設定。
5.5.3
FOV 尋找區
1. 型別(Type)
輸入或以下拉式選單選擇型別作為搜尋條件。
2. 名稱(Name)
輸入或以下拉式選單選擇元件名稱作為搜尋條件。
3. 教導(Trained)
勾選表示以教導過的檢測框作為搜尋條件。
4. 未教導(UnTrained)
勾選表示以未教導的檢測框作為搜尋條件。
5. 檢測(Test)
勾選表示以設定為檢測的檢測框作為搜尋條件。
6. 不檢測(UnTest)
勾選表示以設定為不檢測的檢測框作為搜尋條件。
7. 未被定位的檢測框(No located box)
勾選表示只尋找單獨存在的[Void]或[Pin],以方便尋找需要增加[Warp]的 FOV。