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第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4- 214 （ 3 ）测量操作 1) 单独测量 只对选择的元件 进行测量 。 ① 设置单独测量的条件 从菜单栏中选择 「 机器操作 」 / 「 测量 」 / 「 单独 」后，即显示如下 画面。 图 4-5-4-2-1 设置单独测量条件 a) 被检元件 显示 被检元件的内 容。 b) 吸取位置 显示吸取元件的吸取位置的内容。可改变前代替元件及下一 替代元件的吸取位置。当 没有吸取数据时 ，不…
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3)关于进行测量时的各项动作
① 用于吸取的贴片头
可自动选择用于吸取的贴片头。使用贴片头时,优先使用安装完的吸嘴，以减少吸嘴的
更换次数。根据吸嘴的安装情况，每次测量时，吸取的贴片头可能不同。另外，在方
向判别测量中，可以选择用于吸取的贴片头。
② 测量后放回元件
测量后的元件将被放回原来的位置或被废弃。如下表所示，具体因包装方式而异。废
弃时，根据元件数据中「元件废弃」的设置，将元件废弃到指定的地点。
对于1mm以下的元件，在放回时可能会出现元件直立或元件倒置，请根据询问选择动作。
表 4-5-4-2-8 元件放回/废弃条件
包装方式
条件 1
条件 2
放回
废弃
带状
外形尺寸短边 1mm 以下 询问*1
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○
散装
外形尺寸短边 1mm 以下 询问*1
外形尺寸短边 1mm 以上 ○ ○
托架 ○ ○
管状
－ ○
INS
带状
－ ○
INS 管状
－ ○
*1
显示信息，选择是将元件放回还是废弃。连续测量时，在开始前询问。
③ 选择用于吸取的供给装置
如果同一元件有多个供给装置(吸取数据)，初始值时，从最初输入的数据中吸取元件。
当进行单独测量、方向判别测量时，还可以有计划地改变供应装置。
④ 改变吸取坐标
无法顺利吸取时，可用手动输入或使用示教按钮或者HOD设备进行坐标示教，改变吸取
坐标。在方向判别测量中，不能变更吸取的坐标，但可以通过设定偏移量来挪动吸取
坐标。还可以使用示教按钮或HOD设备进行示教。并不反映到吸取数据里。
⑤ 手动吸取
当没有吸取数据时，可用手动将元件安装到吸嘴上。此时，不能输入吸取坐标。也不
能操作供料器。
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（3）测量操作
1)单独测量
只对选择的元件进行测量。
① 设置单独测量的条件
从菜单栏中选择「机器操作」/「测量」/「单独」后，即显示如下画面。
图 4-5-4-2-1 设置单独测量条件
a) 被检元件
显示被检元件的内容。
b) 吸取位置
显示吸取元件的吸取位置的内容。可改变前代替元件及下一替代元件的吸取位置。当
没有吸取数据时，不显示各项目，也不能进行吸取位置的变更、顶推供料器和示教。
● 送料
顶推一下供料器，送出元件。但是，径向供料器MRF-L／轴向供料器MAF-L的供料器类型传
送2次时，会顶推2次送出元件。
＜径向供料器／轴向供料器使用时的注意要点＞
对于径向供料器／轴向供料器，在 以下的状态下按下[送料]按钮，元件会在供
料器中阻塞，敬请注意。
・ 吸取位置上有元件的状态下
・ 对于径向供料器类型 MRF-L／轴向供料器类型 MAF-L，误设定供料器类
型的状态下
注意
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● 夹紧
仅在包装形式为 INS 带时可以使用。对元件执行夹紧（切割）。
● 解除
仅在包装形式为 INS 带时可以使用。对元件解除夹紧（解除切割）。
●
把示教结果反映在吸取数据
选择是否将示教的结果反映到吸取数据中。不勾选此项时，坐标仅适用于此次吸取时。
● 变更吸取坐标的方法
当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时，可以使用示教按钮或HOD示教贴片坐
标。
此外，不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下示教按钮或HOD装置的键，进行坐标示教，然后按ENTER键进行确定。
图 4-5-4-2-2 正在示教（示教按钮时）
图 4-5-4-2-3 正在示教（HOD 时）
c) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类，可测量的项
目有所不同。