JM-10_使用说明书.pdf - 第498页
第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序 4- 216 d) 补正后引脚伸出量 仅限轴向元件才 会显示此 项。 设定吸取高度测 量中轴向 吸嘴吸取元件时 ,引脚 从吸嘴前端伸出 的长度。 设定结束后,单 击单独检 测的「检测」 ,进行单独测量。 ② 正在进行单独检测的画面 在单独检测过程 中, 显示如下画面。 显示正在进行 单独 检测的元件的 内容及吸取 位置, 并依次显示进行 中的处理 内容。 图 4-5-4-2-4 正在进行单独…

第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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● 夹紧
仅在包装形式为 INS 带时可以使用。对元件执行夹紧(切割)。
● 解除
仅在包装形式为 INS 带时可以使用。对元件解除夹紧(解除切割)。
●
把示教结果反映在吸取数据
选择是否将示教的结果反映到吸取数据中。不勾选此项时,坐标仅适用于此次吸取时。
● 变更吸取坐标的方法
当用于测量的元件的吸取位置与实际有差异时,可以使用示教按钮或HOD示教贴片坐
标。
此外,不进行示教而用手动输入也可变更坐标。
步骤1)将光标移动到X或Y坐标。
步骤2)按下示教按钮或HOD装置的键,进行坐标示教,然后按ENTER键进行确定。
图 4-5-4-2-2 正在示教(示教按钮时)
图 4-5-4-2-3 正在示教(HOD 时)
c) 检测项目
选择需要测量的项目。默认值为选择所有可测量的项目。根据元件种类,可测量的项
目有所不同。

第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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d)
补正后引脚伸出量
仅限轴向元件才会显示此项。
设定吸取高度测量中轴向吸嘴吸取元件时,引脚从吸嘴前端伸出的长度。
设定结束后,单击单独检测的「检测」,进行单独测量。
② 正在进行单独检测的画面
在单独检测过程中,显示如下画面。显示正在进行单独检测的元件的内容及吸取位置,
并依次显示进行中的处理内容。
图 4-5-4-2-4 正在进行单独检测
要强行结束时,请按下<停止>开关,则显示以下对话框。
请选择是否结束检测。
图 4-5-4-2-5 测量结束的确认
因元件的包装方式而有所不同,当元件尺寸在1mm以下时,会显示询问测量后的元件是
放回、或是废弃。
图 4-5-4-2-6 确认是否放回元件

第 1 部 基本篇 第 4 章 制作生产程序
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根据尺寸计算出的激光高度或芯片站立判定高度与原来的值不同时,显示如下询问。
图 4-5-4-2-7 询问是否更新激光高度
图 4-5-4-2-8 询问是否更新芯片站立判定高度
●是
:用测量的新数据覆盖原来的设置值。
●否
:忽略新测量值,使用原来的设定值。