TR7500_Series_Software_ch_v4-6.pdf - 第382页

Test Resear ch Inc. 368 TR 7700 S II User Guid e – Softwar e 顯示此元件的角度。若手動改變角度的值可以將幾測框旋轉,但僅供檢視用,設定並 不會因此改變。 4.9.9.9 % 改變百分比可以將此元件之所有檢測框依比例放大或縮小。 4.9.10 編輯元件 資料庫範例 4.9.10.1 例 1 :晶片電阻類 1) 選擇標準元件:在 [ 元件 ] 下拉式選單中選擇一顆沒有偏移、旋轉或損…

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選擇一個此檢測框要使用的光源。依據設定的 phase 數不同,有不同組數的光源可以
選擇。在此位置設定光源僅只有作目前的檢視用,對於檢測框光源參數的設定必須在
屬性視窗作修改。
4.9.9.6 元件
這裡會列出所有屬於欲建立資料庫形式的元件,攝影機將會移動到點選的元件上方取
像。在建立資料庫時可使用此功能,選擇一個看來最適合且沒有旋轉或偏移的元件來
建立資料庫。
4.9.9.7 類別
在這邊可以設定該類型檢測框所屬的類別。下拉後選定一種類別,當儲存時也會將此
類別資訊儲存起來,若沒有選擇的話,預設值為[UNKNOWN]。此類別資訊在載入資料
庫時,可當作一個尋找條件。
4.9.9.8 角度
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顯示此元件的角度。若手動改變角度的值可以將幾測框旋轉,但僅供檢視用,設定並
不會因此改變。
4.9.9.9 %
改變百分比可以將此元件之所有檢測框依比例放大或縮小。
4.9.10 編輯元件資料庫範例
4.9.10.1 1:晶片電阻類
1) 選擇標準元件:在[元件]下拉式選單中選擇一顆沒有偏移、旋轉或損傷的元件來
製作元件。
2) 調整元件本體框大小及位置:(注意:本體框並不會被檢測)
大小:使用滑鼠拖曳調整至四邊較元件本替體稍大 1~2 畫素。
位置:使用[運動控制]視窗微調使之位在元件本體正上方。
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3) 點選模組資料庫裡相對應的元件類型。
4) 當點選完後,在元件影像上會根據本體框的位置產生兩個[Missing]框與兩個
[Void](實際情況會依使用者需求,可以刪除或增加所要的檢測框)。一個
[Missing]框會落在元件本體框的位置,而另外一個[Missing]筐會落在元件電阻代
碼的位置。另外,兩個[Void]框會落在在[Body]框的兩邊。適時的調整[Missing]
框與[Void]框的大小與位置,使[Missing]框能包覆選擇元件的本體,而[Body]
兩邊的[Void]框能包含元件兩端的爬錫區域,如下圖所示。