TR7500_Series_Software_ch_v4-6.pdf - 第407页
Test Resear ch Inc. TR 7500 Series User Guide – Soft ware 393 [Train] 模式下的檢測參數設定畫面： 教導區 ：設定 [ROI] 框在學習時的參數 敏感度：設定 70 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 30(100- 70) 以上的話， 就認定這兩個畫素是已存在的邊界。 遮罩區：以敏感區區分出的兩個邊界往外延多少畫素增加遮罩。舉例來說，若設 定為 1 的話，…
Test Research Inc.
392 TR7700 SII User Guide–Software
4.10.2.9 Warp
選擇 FOV 中一個較固定的標記，用來重新定位同一 FOV 內其他檢測框因板彎造成零
件之偏移。一個 FOV 內僅能設定一個 Warp 框。若檢測分數不足，僅表示此檢測框失
去其定位功能，並不會列為電路板上的缺陷。
假設板彎在一個 FOV 之變形量為相同的前提下，每顆元件和 Warp 有一相對的位移
量。因此，當板彎發生時該，在設有 Warp 框的 FOV 中，Warp 框會先定位並計算其
偏移量，再將其偏移量補償回各元件，再開始進行此 FOV 中元件的檢測動作。可選擇
方法一或方法二作為[Warp]框所使用的影像比對方式。
要新增此檢測框需在 Train 模式下，把萬用框移動到所要量測區域後，按下左下方的
[新增板彎框]功能才能增加；若要移除，按下[移除板彎框]。
4.10.2.10 ROI
用來檢測表面刮傷，以及金手指沾錫。要新增此檢測框需在 Train 模式下，把萬用框
移動到所要量測區域後，按下左下方的[設 ROI]功能才能增加。若要設定參數，需按下
[ROI 參數]按鈕；若要刪除，按下[刪除 ROI]。
Test Research Inc.
TR7500 Series User Guide–Software 393
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
教導區：設定[ROI]框在學習時的參數
敏感度：設定 70 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 30(100-70)以上的話，
就認定這兩個畫素是已存在的邊界。
遮罩區：以敏感區區分出的兩個邊界往外延多少畫素增加遮罩。舉例來說，若設
定為 1 的話，表示除了上述視為邊界的相鄰兩畫素外，與這兩畫素相鄰 1 個畫素
的點都增加遮罩且不檢測。
Mask Zone of Box：以檢測框往外延伸多少 Pixel 都加上遮罩。
檢測參數區：設定[ROI]框在檢測時的參數，檢測時僅針對位在[ROI]框內但教導後
沒有被遮蔽的區域做檢測。
檢測敏感度：設定 60 分表示若相鄰兩畫素間之灰階值若相差 40(100-60)以上的
話，就認定這兩個畫素是新增的邊界或刮痕。
容忍度：設定為 5 表示若檢測後新增的邊界中有任何一群大於 5 個畫素的話，會
被認定為有瑕疵。
Test Research Inc.
394 TR7700 SII User Guide–Software
備註：[教導敏感度]設定數值需大於[檢測敏感度]，表示教導的敏感度要較敏感，否
則會產生太多誤判。
4.10.2.11 Extra Blob
可用來檢測表面刮傷、髒污與 IC 翹腳。
[Train]模式下的檢測參數設定畫面：
Threshold low/ high：設定灰階門檻值範圍。使用者可以藉由調整圖層權重來提升
檢測效果。
low<level<=high, level>high, level<=low：設定檢測範圍（介於設定的灰界範圍
內、大於設定大於範圍上限，或者設定小於範圍下限。
Defect Pixel Count ：系統會將符合灰階門檻值設定範圍內的畫素(pixel)標示出
來，並將其中相鄰的畫素視為同一群組。使用者可以設定當群組畫素數量高過或者
低於多少才判定為缺陷。若填入數值為 10<=Defect Pixel Count<2500 表示，若檢測
出的的群組畫素數量介於 10~2500 時，才會判定為缺陷。
Principal axis aspect ratio>：若抓出群組的長寬比大於或小於所輸入的值的話才
視為缺點。若輸入 0 表示此項目不檢測。
change to <：勾選本選項時，[Principal axis aspect ratio]參數的定義會改為小於，
即群組的長寬比小於所輸入的值的話才視為缺點。