SAKI AOI入門指南.pdf - 第15页
算法 算法原 理 : 獲得檢測窗口內的亮度梯度 . 窗口內各像素沿著長邊方向的亮度差就 是 ”Distributi on” . ” Wi dth” 值是用來屏蔽掉窗口內灰塵或其它瑕疵的檢測結果 的影響 , 有些灰塵或其它瑕疵會給亮度值起很大的干擾並影響我們的檢測結果的 精準 . 檢測窗口的像素的灰度值分布圖 IC Bridge 根據右面 Sample 的計算原理 I C 腳未短路時 Sample 值較低 << Distrib…
應用實例:
應用于Chip料中,可測出Chip料
是否少錫.假焊.無錫等不良
OK
NG
使用此算
法檢測錫
點時一般
使用
Sidelight的
照明方式
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使用0-
100的設
置表示
尋找較
暗的亮
度值
Ok Range 的Lower設置一般不能低
于70
算法算法原理: 獲得檢測窗口內的亮度梯度.
窗口內各像素沿著長邊方向的亮度差就
是”Distribution”.”Width”
值是用來屏蔽掉窗口內灰塵或其它瑕疵的檢測結果
的影響,
有些灰塵或其它瑕疵會給亮度值起很大的干擾並影響我們的檢測結果的
精準.
檢測窗口的像素的灰度值分布圖
IC Bridge
根據右面Sample的計算原理
IC腳未短路時Sample值較低
<<Distribution>>
得出最後一行數據,
然後選取最小
一個數值作為“
Sample
根據右面Sample的計算原理
IC腳短路時Sample值較高
窗口內各像素沿著長邊方向的亮度差就
值是用來屏蔽掉窗口內灰塵或其它瑕疵的檢測結果
有些灰塵或其它瑕疵會給亮度值起很大的干擾並影響我們的檢測結果的
檢測窗口的像素的灰度值分布圖
檢測窗口內的像素分布
檢測窗口外的像素分布
(僅僅是超過檢測窗口的
一排的像素)
由于雜物等影響而使圖像受到
干擾從而使該點的像素值異常,
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干擾從而使該點的像素值異常,
在下一步的處理之後可有效的
降低這種干擾.
選取每列的最大值和最小值,最後
得出兩行數據
將最大值減去最小值,再將相鄰三
個數值進行平均
然後選取最小
Sample
”值
計算Sample值的詳細過程
參數設置:
應用實例1:
在IC元件中的應用,可測出IC腳短路﹑移位
等不良. 參數設置如下:
OK NG
Ok Range
的設置不
适宜太大
一般為0
至
80之間
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Ok Range
的設置不
适宜太大
,
至