SAKI AOI入門指南.pdf - 第17页
應用實 例 2: 在 Chip 料中的應用 , 可測出移位不 良 . 參數設置如下 : OK NG OK Range 的設置由物料及其周邊的環境來決定 適當的 設置此 參數可 有效的 降低由 17 降低由 于髒物 帶來的 干擾 的設置由物料及其周邊的環境來決定

參數設置:
應用實例1:
在IC元件中的應用,可測出IC腳短路﹑移位
等不良. 參數設置如下:
OK NG
Ok Range
的設置不
适宜太大
一般為0
至
80之間
16
Ok Range
的設置不
适宜太大
,
至

應用實例2:
在Chip料中的應用,可測出移位不
良.參數設置如下:
OK
NG
OK Range
的設置由物料及其周邊的環境來決定
適當的
設置此
參數可
有效的
降低由
17
降低由
于髒物
帶來的
干擾
的設置由物料及其周邊的環境來決定

算法算法原理 :
此算法可計算出窗口內最高亮度與最低亮度之間的差值
X”和”AveragingY”是用來消除一些干擾因素,
比如灰塵對檢測結果的影響
參數設置:
<<Range>>
檢測窗口內各像素的灰度值分布圖
檢測窗口
由于受到某些污點的影響而使像素值受到
干擾,從而變得異常.
在未經過平均處理時
Sample值的結果如下:
“Sample”=Maximum255-
Minimum75=180
將X軸.Y
軸上兩兩相鄰的像值進行平均處
理之後,Sample
值的計算結果如下
“Sample”=Maximum134-
Minimum83=51
此算法可計算出窗口內最高亮度與最低亮度之間的差值
.參數”Averaging
比如灰塵對檢測結果的影響
.
18
當檢測
窗口在
這個位
置時.
Sample
值很小
當檢測
窗口在
這個位
置時.
Sample
值將變
得很大
由于受到某些污點的影響而使像素值受到
在未經過平均處理時
Minimum75=180
軸上兩兩相鄰的像值進行平均處
值的計算結果如下
:
Minimum83=51
用於IC移
位的檢測