SAKI AOI入門指南.pdf - 第21页
應用實 例 : 應用 I C 類元件中可測出 IC 腳的移位 OK NG 適當的 設置此 參數 , 可 有效的 降低由 于髒物 帶來對 Sample 的干擾 應用 Chip 料中可測出錯料 . 爛料 OK NG 21
<<Min>>/<<Max>>
算法算法原理: Min
算法可計算出檢測窗口內最小的亮度值
Max
算法可計算出檢測窗口內最大的亮度值
設定”AveragingX”和”AveragingY
”
結果的影響.
參數設置:
當Algorithm為
Max,AveragingX=2 and AveragingY=2
檢測窗口內各像素的灰度值分布圖
由于受到某些污點的影響而使像素值受到干擾
得異常
“
Sample
將
後
“
Sample
算法可計算出檢測窗口內最小的亮度值
.
算法可計算出檢測窗口內最大的亮度值
.
”
是用來消除一些干擾因素,如灰塵等對檢測
20
Max,AveragingX=2 and AveragingY=2
時,Sample值的詳細計算過程
檢測窗口
由于受到某些污點的影響而使像素值受到干擾
,從而變
得異常
.在未經過平均處理時Sample值的結果如下:
Sample
”=Maximum255=255
將
X軸.Y軸上兩兩相鄰的像值進行平均處理之
後
,Sample值的計算結果如下:
Sample
”=Maximum134-Minimum83=51
應用實例:
應用IC類元件中可測出IC腳的移位
OK
NG
適當的
設置此
參數,可
有效的
降低由
于髒物
帶來對
Sample
的干擾
應用Chip料中可測出錯料.爛料
OK NG
21
<<L Tracking>>/<<W Tracking>>
算法算法原理:在長的方向上獲取明暗變化的邊界.
在寬的方向上獲取明暗變化的邊界.
參數設置:
當”L Tracking”,”Upper Lever”=“Lower Level”=255時,
表示利用元件亮的部分來獲得它在縱向上的位置
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表示利用元件亮的部分來獲得它在縱向上的位置