SAKI AOI入門指南.pdf - 第29页
算法 算法原 理 : 此兩种算法可在檢測窗口內搜尋與已知 圖像相似的圖像及其 相似程 度 . 當兩幅圖像完全一 樣時 , 則” Sample ” 為 0. << << Image Mat ching Image Mat ching >>/<< >>/<< Image Matching EX Image Matching EX A A 兩算法 之區 別 : Image…
應用實例:
例如使用”V1+V2”的算法來
把兩個方向上的矢量相加
檢測窗口分別放在元器件本体上.使用”
L/W Tracking
把得到的數值分別存入V1,V2兩個寄存器中.
然后把它們相加后存入
后的檢測中使用.
此時的
參數設
置表示
尋找白
色的邊
界
設置
搜尋
范圍,
可根
据元
器件
大小
決定.
把兩個方向上的矢量相加
.在使用此算法之前,用兩個
L/W Tracking
”來計算出X,Y方向上的校正值,
然后把它們相加后存入
V3,就可以在以
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算法算法原理:
此兩种算法可在檢測窗口內搜尋與已知圖像相似的圖像及其相似程
度.當兩幅圖像完全一樣時,則”Sample
”
為0.
<<<<Image MatchingImage Matching>>/<<>>/<<
Image Matching EXImage Matching EX
A
A
兩算法之區別: Image Matching EX比
Image Matching
A
A
參數設置:
此兩种算法可在檢測窗口內搜尋與已知圖像相似的圖像及其相似程
”
為100,相反如果完全不同,則”Sample”
Image Matching EXImage Matching EX
>>>>
Ｋ
Image Matching
檢測速度要快.
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Ｋ
A.模式對比處理過程
在檢測時將被檢圖像與已知主圖像疊合,
在已設置的搜尋範圍內移動主圖像
移動主圖像直到主圖像與被檢圖像之間的灰度差最小
灰度差很小
兩幅圖像很相似(“Sample”值很大)
灰度差很大
兩幅圖像不相似(“Sample”值很小)
B.規範化處理過程
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移動主圖像直到主圖像與被檢圖像之間的灰度差最小
上圖表明了規範化處理過程對模式對比
的影響,有時同樣的元件因為PCB亮度的不
同而亮度不同,這時就需要先進行規範化處
理過程.
規範化處理過程后,元件的亮度範圍
就被擴充到0-255的全亮度範圍.