SAKI AOI入門指南.pdf - 第22页
<< L T racking >>/<< W T racking >> 算法 算法原 理 : 在長的方向上獲取明暗變化的邊界 . 在寬的方向上獲取明暗變化的邊界 . 參數設 置 : 當 ” L T racking ” , ” Upper Lever ” = “ Lower Level ” =255 時 , 表示利用元件亮的 部分來獲得它在縱向 上的位置 22 表示利用元件亮的 部分來獲得它…
應用實例:
應用IC類元件中可測出IC腳的移位
OK
NG
適當的
設置此
參數,可
有效的
降低由
于髒物
帶來對
Sample
的干擾
應用Chip料中可測出錯料.爛料
OK NG
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<<L Tracking>>/<<W Tracking>>
算法算法原理:在長的方向上獲取明暗變化的邊界.
在寬的方向上獲取明暗變化的邊界.
參數設置:
當”L Tracking”,”Upper Lever”=“Lower Level”=255時,
表示利用元件亮的部分來獲得它在縱向上的位置
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表示利用元件亮的部分來獲得它在縱向上的位置
應用實例:
此時的
參數設
置表示
置表示
尋找白
色的邊
界
設置
搜尋
范圍,
可根
据元
器件
大小
決定.
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