SAKI AOI入門指南.pdf - 第55页
<< Mem1+Mem2/Mem1-Mem2 >> 算法原 理 : 在內存中完成兩個寄存器中數值的相加 參數設 置 : 例如使用 ” M1-M2 ” 的算法來檢測元器件的极性 口分別放在元器件的兩端使用 ” A verage ” 算法 存器中 . 這樣在這里把它們兩個相減 , 如果极性對的話 反了則 ” Sample ” 小于 0. 應用實 例 : 在內存中完成兩個寄存器中數值的相加 ( 或相減 ). 55 的算…
<<<<PinsolderPinsolder>>>>
算法算法原理:此算法可以获得窗口指定区域
(Area1
该指定区域的百分比.
應用實例:
該檢測窗口可以在一定的范圍內自動尋找
粉紅色
窗口
Area1
黃色窗口
Area2
L1 L2
L3
OK
NG
(Area1
-Area2)內符合已设定的亮度范围的面积占
該檢測窗口可以在一定的范圍內自動尋找
IC腳.
改變
此值
可改
在照
明方
式的
選擇
上一
般都
使用
54
可改
變L1
的長
度.
改變
此值
可改
變L2
的長
度.
改變
此值
可改
變L3
的長
度.
表示在Area1-Area2內尋找0至100的灰度值
使用
TopLi
ght
<<Mem1+Mem2/Mem1-Mem2>>
算法原理:
在內存中完成兩個寄存器中數值的相加
參數設置:
例如使用”M1-M2”
的算法來檢測元器件的极性
口分別放在元器件的兩端使用”Average”
算法
存器中.這樣在這里把它們兩個相減,
如果极性對的話
反了則”Sample”小于0.
應用實例:
在內存中完成兩個寄存器中數值的相加
(或相減).
55
的算法來檢測元器件的极性
.在使用此算法之前,用兩個檢測窗
算法
,把得到的數值分別存入M1, M2兩個寄
如果极性對的話
,計算結果應”Sample”大于0.如果
56
在使用
M1-M2
算法之
前必須
確認
M1,M2
已經被
賦予實
際的值