SAKI AOI入門指南.pdf - 第45页
<< << A verage A verage >> >> 算法 算法原 理 : 此算法可計算出检测窗口内的平均亮度值 在應用 于 Chip 料的 檢測 中 參數設 置 : 檢測窗口 OK 檢測窗口 NG 在應用 于 Chip 料的 檢測 中 可測出 錯料 . 爛料等 不良 此算法可計算出检测窗口内的平均亮度值 . 45 參 數 設 置 的 界 面

有料時
的錫點
ToplightToplight
漏料時
的錫點
應用實例:
當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺失時
會有很好的檢測效果.
SidelightSidelight
的錫點
有料時
的錫點
漏料時
的錫點
參數設置:
此燈光
類型的
選擇不
會影響
Sample
值
分別設
當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺失時
.通過使用ChipMissing3來進行檢測
44
分別設
置兩種
燈光下
所要尋
找的亮
度值的
上限

<<<<AverageAverage>>>>
算法算法原理:
此算法可計算出检测窗口内的平均亮度值
在應用于Chip料的檢測中
參數設置:
檢測窗口
OK
檢測窗口
NG
在應用于Chip料的檢測中
可測出錯料.爛料等不良
此算法可計算出检测窗口内的平均亮度值
.
45
參
數
設
置
的
界
面

<<<<Land JudgmentLand Judgment>>>>
算法算法原理:机器会在 top light 和 side light
光线下得到两张图像
上都会有两种光亮度,
这种算法就是通过分别设定两种图像上的
side max, top min 和 top max
来计算符合范围要求的像素占整个窗口的百分比
參數設置:
光线下得到两张图像
. 因此每一个像素在两张图像
这种算法就是通过分别设定两种图像上的
光亮度的范围side min,
来计算符合范围要求的像素占整个窗口的百分比
.
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