SAKI AOI入門指南.pdf - 第42页

應用實 例 : OK 此算法 在 Chip 料的檢測中可以 測出假 焊 、 少錫等不良 NG OK 在照 明方 式上 使用 T opLi ght 燈 光 42 建議此 參數的 設置值 為 20 至 30 之間 OK Range 的范圍不适宜給得太寬

100%1 / 132
正常上錫
正常錫點亮度
值變化示意圖
41
锡点假焊
假焊錫點亮度
值變化示意圖
應用實:
OK
此算法Chip料的檢測中可以
測出假少錫等不良
NG
OK
在照
明方
式上
使用
TopLi
ght
42
建議此
參數的
設置值
20
30之間
OK Range的范圍不适宜給得太寬
<<ChipMissing3>>
算法原算法原: :
此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的
SidelightSidelight两种灯光下的图像两种灯光下的图像. .
它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比
參數設:
此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的
. . 用到了用到了 Toplight Toplight
它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比
..
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