SAKI AOI入門指南.pdf - 第54页
<< << Pinsolder Pinsolder >> >> 算法 算法原 理 : 此算法可以获得窗口指定区域 (Area1 该指定区域的百分比 . 應用實 例 : 該檢測窗口可以在一定的范圍內自動尋找 粉紅色 窗口 Area1 黃色窗口 Area2 L1 L2 L3 OK NG (Area1 -Area2) 內符合已设定的亮度范围的面积占 該檢測窗口可以在一定的范圍內自動尋找 IC 腳…
應用實例:
OK NG
此算法在IC類的檢測中可測出IC腳假焊、無錫等不良
設置粉紅色
窗口的長度
設置粉紅色窗
口的檢測範圍
設置粉紅色窗
口所要尋找的
灰度值下限
粉紅色窗口
的檢測結果
此設置值表示: 如果0<=Sample<40時,為OK
如果40<=Sample<60時,跳到綠色檢測窗口
如果Sample>60時,為NG.
設置綠色窗口所要尋
找的灰度值上限
在照
明方
式的
選擇
上一
般使
用Top
Light
燈光
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設定綠色窗口的
OK Range
設置綠色窗口所要尋
找的灰度值上限
設置綠色窗口的
檢測範圍
設置綠色窗
口的長度
綠色窗口的檢測結果.
注意:只有當前一個Sample為
NG時,此窗口才有實際值
當前藍
色窗口
的尺寸
描述
<<<<PinsolderPinsolder>>>>
算法算法原理:此算法可以获得窗口指定区域
(Area1
该指定区域的百分比.
應用實例:
該檢測窗口可以在一定的范圍內自動尋找
粉紅色
窗口
Area1
黃色窗口
Area2
L1 L2
L3
OK
NG
(Area1
-Area2)內符合已设定的亮度范围的面积占
該檢測窗口可以在一定的范圍內自動尋找
IC腳.
改變
此值
可改
在照
明方
式的
選擇
上一
般都
使用
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可改
變L1
的長
度.
改變
此值
可改
變L2
的長
度.
改變
此值
可改
變L3
的長
度.
表示在Area1-Area2內尋找0至100的灰度值
使用
TopLi
ght
<<Mem1+Mem2/Mem1-Mem2>>
算法原理:
在內存中完成兩個寄存器中數值的相加
參數設置:
例如使用”M1-M2”
的算法來檢測元器件的极性
口分別放在元器件的兩端使用”Average”
算法
存器中.這樣在這里把它們兩個相減,
如果极性對的話
反了則”Sample”小于0.
應用實例:
在內存中完成兩個寄存器中數值的相加
(或相減).
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的算法來檢測元器件的极性
.在使用此算法之前,用兩個檢測窗
算法
,把得到的數值分別存入M1, M2兩個寄
如果极性對的話
,計算結果應”Sample”大于0.如果