SAKI AOI入門指南.pdf - 第28页
應用實 例 : 例如使用 ” V1+V2 ” 的算法來 把兩個方向上的矢量相加 檢測窗口分別放在元器件本体上 . 使用 ” L/W T racking 把得到的數值分別存入 V1,V2 兩個寄存器中 . 然后把它們相加后存入 后的檢測中使用 . 此時的 參數設 置表示 尋找白 色的邊 界 設置 搜尋 范圍 , 可根 据元 器件 大小 決定 . 把兩個方向上的矢量相加 . 在使用此算法之前 , 用兩個 L/W T racking ” 來計…
當”Method”=2或其它時,進行窗口位置調整
在寬度方向上調整窗口位置使得亮度溝槽下好對準窗口的中心
置的調整量會比”Method”=others時更敏感.
當”Method”=2或其它時,消除噪聲信號的干擾
為了消除噪聲信號的干擾,在寬度方向上每兩列就進行一次平均
為了消除噪聲信號的干擾,在寬度方向上每兩列就進行一次平均
在寬度方向上調整窗口位置使得亮度溝槽下好對準窗口的中心
.當”Method”=2時窗口位
在寬度方向上每兩列就進行一次平均.
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在寬度方向上每兩列就進行一次平均.
應用實例:
例如使用”V1+V2”的算法來
把兩個方向上的矢量相加
檢測窗口分別放在元器件本体上.使用”
L/W Tracking
把得到的數值分別存入V1,V2兩個寄存器中.
然后把它們相加后存入
后的檢測中使用.
此時的
參數設
置表示
尋找白
色的邊
界
設置
搜尋
范圍,
可根
据元
器件
大小
決定.
把兩個方向上的矢量相加
.在使用此算法之前,用兩個
L/W Tracking
”來計算出X,Y方向上的校正值,
然后把它們相加后存入
V3,就可以在以
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算法算法原理:
此兩种算法可在檢測窗口內搜尋與已知圖像相似的圖像及其相似程
度.當兩幅圖像完全一樣時,則”Sample
”
為0.
<<<<Image MatchingImage Matching>>/<<>>/<<
Image Matching EXImage Matching EX
A
A
兩算法之區別: Image Matching EX比
Image Matching
A
A
參數設置:
此兩种算法可在檢測窗口內搜尋與已知圖像相似的圖像及其相似程
”
為100,相反如果完全不同,則”Sample”
Image Matching EXImage Matching EX
>>>>
Ｋ
Image Matching
檢測速度要快.
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Ｋ