SAKI AOI入門指南.pdf - 第19页
應用實 例 : OK 應用 Chip 料中可測出錯料 . 爛料 OK NG 适當 設置 此參 數可 有效 地降 低異 物等 帶來 的干 擾 應用 I C 類元件中可測出 IC 腳的移位 NG 19
算法算法原理 :
此算法可計算出窗口內最高亮度與最低亮度之間的差值
X”和”AveragingY”是用來消除一些干擾因素,
比如灰塵對檢測結果的影響
參數設置:
<<Range>>
檢測窗口內各像素的灰度值分布圖
檢測窗口
由于受到某些污點的影響而使像素值受到
干擾,從而變得異常.
在未經過平均處理時
Sample值的結果如下:
“Sample”=Maximum255-
Minimum75=180
將X軸.Y
軸上兩兩相鄰的像值進行平均處
理之後,Sample
值的計算結果如下
“Sample”=Maximum134-
Minimum83=51
此算法可計算出窗口內最高亮度與最低亮度之間的差值
.參數”Averaging
比如灰塵對檢測結果的影響
.
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當檢測
窗口在
這個位
置時.
Sample
值很小
當檢測
窗口在
這個位
置時.
Sample
值將變
得很大
由于受到某些污點的影響而使像素值受到
在未經過平均處理時
Minimum75=180
軸上兩兩相鄰的像值進行平均處
值的計算結果如下
:
Minimum83=51
用於IC移
位的檢測
應用實例:
OK
應用Chip料中可測出錯料.爛料
OK NG
适當
設置
此參
數可
有效
地降
低異
物等
帶來
的干
擾
應用IC類元件中可測出IC腳的移位
NG
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<<Min>>/<<Max>>
算法算法原理: Min
算法可計算出檢測窗口內最小的亮度值
Max
算法可計算出檢測窗口內最大的亮度值
設定”AveragingX”和”AveragingY
”
結果的影響.
參數設置:
當Algorithm為
Max,AveragingX=2 and AveragingY=2
檢測窗口內各像素的灰度值分布圖
由于受到某些污點的影響而使像素值受到干擾
得異常
“
Sample
將
後
“
Sample
算法可計算出檢測窗口內最小的亮度值
.
算法可計算出檢測窗口內最大的亮度值
.
”
是用來消除一些干擾因素,如灰塵等對檢測
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Max,AveragingX=2 and AveragingY=2
時,Sample值的詳細計算過程
檢測窗口
由于受到某些污點的影響而使像素值受到干擾
,從而變
得異常
.在未經過平均處理時Sample值的結果如下:
Sample
”=Maximum255=255
將
X軸.Y軸上兩兩相鄰的像值進行平均處理之
後
,Sample值的計算結果如下:
Sample
”=Maximum134-Minimum83=51