SAKI AOI入門指南.pdf - 第18页
算法 算法原 理 : 此算法可計算出窗口內最高亮度與最低亮度之間的差值 X ” 和 ” A veraging Y ” 是用來消除一些干擾因素 , 比如灰塵對檢測結果的影響 參數設 置 : << Range >> 檢測窗口內各像素的灰度值分布圖 檢測窗口 由于受到某些污點的影響而使像素值受到 干擾 , 從而變得異常 . 在未經過平均處理時 Sample 值的結果如下 : “ Sample ” =Maximum255…
應用實例2:
在Chip料中的應用,可測出移位不
良.參數設置如下:
OK
NG
OK Range
的設置由物料及其周邊的環境來決定
適當的
設置此
參數可
有效的
降低由
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降低由
于髒物
帶來的
干擾
的設置由物料及其周邊的環境來決定
算法算法原理 :
此算法可計算出窗口內最高亮度與最低亮度之間的差值
X”和”AveragingY”是用來消除一些干擾因素,
比如灰塵對檢測結果的影響
參數設置:
<<Range>>
檢測窗口內各像素的灰度值分布圖
檢測窗口
由于受到某些污點的影響而使像素值受到
干擾,從而變得異常.
在未經過平均處理時
Sample值的結果如下:
“Sample”=Maximum255-
Minimum75=180
將X軸.Y
軸上兩兩相鄰的像值進行平均處
理之後,Sample
值的計算結果如下
“Sample”=Maximum134-
Minimum83=51
此算法可計算出窗口內最高亮度與最低亮度之間的差值
.參數”Averaging
比如灰塵對檢測結果的影響
.
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當檢測
窗口在
這個位
置時.
Sample
值很小
當檢測
窗口在
這個位
置時.
Sample
值將變
得很大
由于受到某些污點的影響而使像素值受到
在未經過平均處理時
Minimum75=180
軸上兩兩相鄰的像值進行平均處
值的計算結果如下
:
Minimum83=51
用於IC移
位的檢測
應用實例:
OK
應用Chip料中可測出錯料.爛料
OK NG
适當
設置
此參
數可
有效
地降
低異
物等
帶來
的干
擾
應用IC類元件中可測出IC腳的移位
NG
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