SAKI AOI入門指南.pdf - 第43页

<< ChipMissing3 >> 算法原 理 算法原 理 : : 此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的 此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的 Sidelight Sidelight 两种灯光下的图像 两种灯光下的图像 . . 它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比 它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比 參數設 置 : 此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的 此…

100%1 / 132
應用實:
OK
此算法Chip料的檢測中可以
測出假少錫等不良
NG
OK
在照
明方
式上
使用
TopLi
ght
42
建議此
參數的
設置值
20
30之間
OK Range的范圍不适宜給得太寬
<<ChipMissing3>>
算法原算法原: :
此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的
SidelightSidelight两种灯光下的图像两种灯光下的图像. .
它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比
參數設:
此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的
. . 用到了用到了 Toplight Toplight
它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比
..
43
有料時
的錫點
ToplightToplight
漏料時
的錫點
應用實:
當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺失時
會有很好的檢測效果.
SidelightSidelight
的錫點
有料時
的錫點
漏料時
的錫點
參數設:
此燈光
類型的
選擇不
會影響
Sample
分別設
當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺失時
.通過使用ChipMissing3來進行檢測
44
分別設
置兩種
燈光下
所要尋
找的亮
度值的
上限