SAKI AOI入門指南.pdf - 第44页
有料時 的錫點 Toplight Toplight 漏料時 的錫點 應用實 例 : 當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺 失時 會有很好的檢測效果 . Side light Side light 的錫點 有料時 的錫點 漏料時 的錫點 參數設 置 : 此燈光 類型的 選擇不 會影響 Sample 值 分別設 當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺 失時 . 通過使用 Ch ipMissin g3 來進行檢測 44 分別設 置兩種 …
<<ChipMissing3>>
算法原理算法原理: :
此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的
SidelightSidelight两种灯光下的图像两种灯光下的图像. .
它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比
參數設置:
此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的此算法通過檢測元件两傍焊锡膏的状况来进行检测的
. . 用到了用到了 Toplight Toplight 和和
它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比它会计算指定光亮度范围内的像素占整个窗口的百分比
..
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有料時
的錫點
ToplightToplight
漏料時
的錫點
應用實例:
當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺失時
會有很好的檢測效果.
SidelightSidelight
的錫點
有料時
的錫點
漏料時
的錫點
參數設置:
此燈光
類型的
選擇不
會影響
Sample
值
分別設
當用光亮度和彩色信息無法判別無元器件的缺失時
.通過使用ChipMissing3來進行檢測
44
分別設
置兩種
燈光下
所要尋
找的亮
度值的
上限
<<<<AverageAverage>>>>
算法算法原理:
此算法可計算出检测窗口内的平均亮度值
在應用于Chip料的檢測中
參數設置:
檢測窗口
OK
檢測窗口
NG
在應用于Chip料的檢測中
可測出錯料.爛料等不良
此算法可計算出检测窗口内的平均亮度值
.
45
參
數
設
置
的
界
面