SAKI AOI入門指南.pdf - 第25页

應用實 例 : 在應用于 Chip 料的檢測中可以測出錯料 ﹑漏料﹑爛料等不良 給 Step 設定 一個 合理 當元件表面的亮度比較恆定在某一亮度而且 跟周圍的亮度區別很 大時 這個方法就非常有效 . NG OK 合理 的值 可有 效的 降低 圖像 噪聲 干擾 給 Step 設定 一個 合理 當元件表面的亮度比較恆定在某一亮度而且 跟周圍的亮度區別很 大時 , 25 合理 的值 可有 效的 降低 圖像 噪聲 干擾 Ok 范 圍的 設置 …

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<<Peak>>
算法算法原:
獲取檢測窗口內存在最普遍的亮度值
干擾.
參數設:
增加”Step”
的值可以減少圖像噪聲的干擾
噪聲的干擾減到最小.
在下圖的檢測窗口內的亮度直方圖
Prepare the histogram of the brightness inside the window.
義直方圖中的亮度跨度.
獲取在直方圖中高度最高的亮度值
獲取檢測窗口內存在最普遍的亮度值
.這牽涉到如何處理一些圖像噪聲信號的
的值可以減少圖像噪聲的干擾
,”Step”值設置超過10,就能將圖像
24
Prepare the histogram of the brightness inside the window.
Step
獲取在直方圖中高度最高的亮度值
.
應用實:
在應用于Chip料的檢測中可以測出錯料
﹑漏料﹑爛料等不良
Step
設定
一個
合理
當元件表面的亮度比較恆定在某一亮度而且跟周圍的亮度區別很大時
這個方法就非常有效.
NG
OK
合理
的值
可有
效的
降低
圖像
噪聲
干擾
Step
設定
一個
合理
當元件表面的亮度比較恆定在某一亮度而且跟周圍的亮度區別很大時
,
25
合理
的值
可有
效的
降低
圖像
噪聲
干擾
Ok
圍的
設置
可根
據所
檢測
的物
料來
決定
<<Bridge>>
算法原:
這個方法用來檢測IC
的引腳是否有橋連
度方向上的亮度深度,
以此來判斷在窗口寬度方向上是否存在暗條
參數設:
詳細處理過:
Method=1, 窗口是縱向的
的引腳是否有橋連
(短路)的缺陷.它能得到在窗口長
以此來判斷在窗口寬度方向上是否存在暗條
.
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