SAKI AOI入門指南.pdf - 第20页
<< Min >>/<< Max >> 算法 算法原 理 : Min 算法可計算出檢測窗口內最小的亮度值 Max 算法可計算出檢測窗口內最大的亮度值 設定 ”AveragingX” 和 ”Averag ingY ” 結果的影響 . 參數設 置 : 當 Algorithm 為 Max,A veraging X=2 and A verag ingY=2 檢測窗口內各像素的灰度值分布圖 由于受到…
應用實例:
OK
應用Chip料中可測出錯料.爛料
OK NG
适當
設置
此參
數可
有效
地降
低異
物等
帶來
的干
擾
應用IC類元件中可測出IC腳的移位
NG
19
<<Min>>/<<Max>>
算法算法原理: Min
算法可計算出檢測窗口內最小的亮度值
Max
算法可計算出檢測窗口內最大的亮度值
設定”AveragingX”和”AveragingY
”
結果的影響.
參數設置:
當Algorithm為
Max,AveragingX=2 and AveragingY=2
檢測窗口內各像素的灰度值分布圖
由于受到某些污點的影響而使像素值受到干擾
得異常
“
Sample
將
後
“
Sample
算法可計算出檢測窗口內最小的亮度值
.
算法可計算出檢測窗口內最大的亮度值
.
”
是用來消除一些干擾因素,如灰塵等對檢測
20
Max,AveragingX=2 and AveragingY=2
時,Sample值的詳細計算過程
檢測窗口
由于受到某些污點的影響而使像素值受到干擾
,從而變
得異常
.在未經過平均處理時Sample值的結果如下:
Sample
”=Maximum255=255
將
X軸.Y軸上兩兩相鄰的像值進行平均處理之
後
,Sample值的計算結果如下:
Sample
”=Maximum134-Minimum83=51
應用實例:
應用IC類元件中可測出IC腳的移位
OK
NG
適當的
設置此
參數,可
有效的
降低由
于髒物
帶來對
Sample
的干擾
應用Chip料中可測出錯料.爛料
OK NG
21