SAKI AOI入門指南.pdf - 第41页
正常上錫 正常錫點亮度 值變化示意圖 41 锡点假焊 假焊錫點亮度 值變化示意圖
<<LiftChip>>
算法原理算法原理::
这种算法是通过元器件两极和它们两旁的焊锡膏灰度来检测元器件的焊点不良这种算法是通过元器件两极和它们两旁的焊锡膏灰度来检测元器件的焊点不良
种算法使用需要窗口内的光亮度有变化种算法使用需要窗口内的光亮度有变化. .
它用来检测窗口内的光亮度有明暗三个区域它用来检测窗口内的光亮度有明暗三个区域
断灰暗区域是否合格断灰暗区域是否合格.. (如下图)
參數設置:
这种算法是通过元器件两极和它们两旁的焊锡膏灰度来检测元器件的焊点不良这种算法是通过元器件两极和它们两旁的焊锡膏灰度来检测元器件的焊点不良
. . 这这
它用来检测窗口内的光亮度有明暗三个区域它用来检测窗口内的光亮度有明暗三个区域
, , 然后判然后判
40
正常上錫
正常錫點亮度
值變化示意圖
41
锡点假焊
假焊錫點亮度
值變化示意圖
應用實例:
OK
此算法在Chip料的檢測中可以
測出假焊、少錫等不良
NG
OK
在照
明方
式上
使用
TopLi
ght燈
光
42
建議此
參數的
設置值
為20至
30之間
OK Range的范圍不适宜給得太寬