SAKI AOI入門指南.pdf - 第31页
應用實 例 : 此算法 在 IC 中的應用可測出反向 、 錯料 、 漏料 等不良 OK NG NG 設置 檢測 窗口 的尋 找範 圍 等不良 31 設置此 參數可 以改變 Sample 值的計 算方式 NG OK Rang e 的 Lower 不宜低于 65 增加或刪除當前圖片
A.模式對比處理過程
在檢測時將被檢圖像與已知主圖像疊合,
在已設置的搜尋範圍內移動主圖像
移動主圖像直到主圖像與被檢圖像之間的灰度差最小
灰度差很小
兩幅圖像很相似(“Sample”值很大)
灰度差很大
兩幅圖像不相似(“Sample”值很小)
B.規範化處理過程
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移動主圖像直到主圖像與被檢圖像之間的灰度差最小
上圖表明了規範化處理過程對模式對比
的影響,有時同樣的元件因為PCB亮度的不
同而亮度不同,這時就需要先進行規範化處
理過程.
規範化處理過程后,元件的亮度範圍
就被擴充到0-255的全亮度範圍.
應用實例:
此算法在IC中的應用可測出反向、錯料、漏料
等不良
OK
NG
NG
設置
檢測
窗口
的尋
找範
圍
等不良
31
設置此
參數可
以改變
Sample
值的計
算方式
NG
OK Range的Lower不宜低于65
增加或刪除當前圖片
算法算法原理 : 此算法使用顏色来检测元件的缺件.
样本边界线是根据两端的坐标
data A,Color data B)来设定的.
要将检测窗口的大小设成能包含一个颜色区分非常明显
的区域.
请注意此算法将黑色和白色视为一种颜色
<<Color XY>>
Green Area
(綠色區域)
Black/White
Area
(黑白區域)
Blue Area
(藍色區域)
样本边界线是根据两端的坐标
(Color
要将检测窗口的大小设成能包含一个颜色区分非常明显
请注意此算法将黑色和白色视为一种颜色
.
Yellow Area
(黃色區域)
Area
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red Area
(紅色區域)