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Test Research Inc. TR 7007 User Guide -- So ftware 101 局部區域不適用相 同 Z 值示意圖 圖 201 預先搜尋模式：分為無 / 一個 / 全部，針對不同掃描模式下選擇不同預先搜尋模式預 掃定位點可使用的光源種類如下表所示， 無：速度 / 正常模式皆使用條紋光掃描定位點，彩色模式使用白光 ( 小環燈 ) 來掃 描定位點。 一個：檢測前使用設定的光源預先掃描一個最靠近鏡頭起始位…
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正常模式：使用正常速度掃板，利用降低掃圖時間取得更多受測物資訊以增加
準確度，適用於高精度無時間壓力型生產線。此模式下左右條紋光分別蒐集 8
張不同投射週期的影像經由四步相移法計算出該搜尋區域的高度值，共使用
16 張影像來計算出該區域的高度值。
速度模式：使用最高速度掃板，適用於大量輸出型產品。此模式下左右條紋光
分別蒐集 4 張不同投射週期的影像，經由四步相移法計算出該搜尋區域的高度
值，共使用 8 張影像來計算出該區域的高度值。
彩色模式：除了使用左右條紋光影像計算該點高度值外，利用大環燈(R/G/B)
與小環燈(W)來呈現彩色圖像，共需使用 12 張影像(8 張條紋光圖像 + 4 張彩色
圖像)
變形模式：分為追蹤與不追蹤。選擇”追蹤”功能後，於檢測時啟用測距雷射，其結果
可於快捷工具列上點選『變形視圖』顯示全板的變形情況。用途在於若受測板有板彎
(翹)發生，部分受測物存在失焦的風險，進而影響後續計算的準確性。因此每次動態
掃描時若有部分受測物超出此焦距景深時，軟體根據雷射量測値評估適當的高度値(Z)
後進行 Z 軸補償。
以下說明兩種失焦狀況：
單一取像時，使用單一高度補償値即可克服部份受測物失焦的情形：軟體根據
雷射量測的高度値找出適當的補償值以確保所有受測物皆在相同焦距景深內。
完成補償後鏡頭會移動至補償的高度進而開始掃描。由於本系統為動態取像，
因此在單一次取像過程中不可改變鏡頭與受測物之間的距離。
全體受測物皆適用相同 Z 值示意圖
圖200
單一取像時，使用多個高度補償値才可克服部份受測物失焦的情形：當板子發
生嚴重的彎(翹)情形，受測物間的高度落差太大，即便軟體根據雷射量測的高
度値找出補償值後仍有部分受測物失焦。此時，機台會先調整一個高度補償値
使多數受測物於此焦距景深內；完成掃描後，機台會再次改變 Z 値後重覆掃描。
最多可重覆掃描 3 次。
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局部區域不適用相同 Z 值示意圖 圖201
預先搜尋模式：分為無 / 一個 / 全部，針對不同掃描模式下選擇不同預先搜尋模式預
掃定位點可使用的光源種類如下表所示，
無：速度/正常模式皆使用條紋光掃描定位點，彩色模式使用白光(小環燈)來掃
描定位點。
一個：檢測前使用設定的光源預先掃描一個最靠近鏡頭起始位置的定位點，作
為光場補正用。
預先搜尋一個定位點示意圖 圖202
全部：使用設定的光源種類將所有的定位點預先掃描。
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不同掃描模式下各種預先搜尋模式可使用的光源種類 圖203
優化路徑：勾選表示開啟優化功能。此功能為當機台在掃描時會整行跳過無檢測框的
區域，以節省掃圖時間。
優化路徑功能示意圖 圖204
掃描 X 偏移：掃描起始點與原始檢測資料 X 方向的偏移距離(右為正，左為負)。
掃描 Y 偏移：掃描起始點與原始檢測資料 Y 方向偏移的距離(上為正，下為負)。
掃描寬度(X 値)：設定掃描範圍的寬度。此寬度值(X 値)由匯入 SPI 檔時自動帶入，可
藉由”取得掃描尺寸”重新設定掃描 X 値。
掃描高度(Y 値)：設定掃描範圍的高度距離。此高度值(Y 値)由匯入 SPI 檔時自動帶入，
可藉由”取得掃描尺寸”重新設定掃描 Y 値。
取得掃描尺寸：分別將全板的左下角與右上角的板邊置於十字標中心後，點選”取得
掃描尺寸”完成重新定義掃描全板的尺寸，可更準確的定義全板的掃描範圍。
掃描尺寸設定_設定左下角示意圖 圖205